Retention loss phenomena in hydrothermally fabricated heteroepitaxial PbTiO 3 films studied by scanning probe microscopy

Applied Physics Letters

Volumn 88, Issue 8, 2006, Pages

  Ahn, W S ^a   Jung, W W ^a   Choi, S K ^a   Cho, Yasuo ^b  

^a Korea Advanced Institute of Science and Technology (KAIST)   (South Korea)

^b TOHOKU UNIVERSITY   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

COMPRESSIVE STRAIN ENERGY; CURIE TEMPERATURE; NANODOMAINS; SCANNING PROBE MICROSCOPY;

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; LEAD COMPOUNDS; NANOSTRUCTURED MATERIALS; PROBES; SCANNING; THERMAL EFFECTS;

THIN FILMS;

EID: 33644508640     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2178417     Document Type: Article

References (23)

1. J. F. Scott and C. A. Araujo, Science 246, 1400 (1989).
2. C. A. Paz de Araujo, J. D. Cuchiaro, L. D. McMillan, M. C. Scott, and J. F. Scott, Nature (London) 374, 627 (1995).
3. F. Jona and G. Shirane, Ferroelectric Crystals (Pergamon, Oxford, 1962), p. 46.
4. T. Hidaka, T. Mayurama, M. Saitoh, N. Mikoshiba, M. Shimizu, T. Shiosaki, L. A. Wills, R. Hiskes, S. A. Dicarolis, and J. Amano, Appl. Phys. Lett. 68, 2358 (1996).
5. C. H. Ahn, T. Tybell, L. Antognazza, K. Char, R. H. Hammond, M. R. Beasley, Ø. Fisher, and J.-M. Triscone, Science 276, 1100 (1997).
6. P. Paruch, T. Tybell, and J.-M. Triscone, Appl. Phys. Lett. 79, 530 (2001).
7. Y. Cho, K. Fujimoto, Y. Hiranaga, Y. Wagatsuma, A. Onoe, K. Terabe, and K. Kitamur, Nanotechnology 14, 637 (2003).
8. A. Gruverman, H. Tokumoto, A. S. Prakash, S. Aggarwal, B. Yang, M. Wuttig, R. Ramesh, O. Auciello, and T. Venkatesan, Appl. Phys. Lett. 71, 3492 (1997).
9. D. Fu, K. Suzuki, K. Kato, M. Minakata, and H. Suzuki, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 41, 6724 (2002).
10. C. S. Ganpul, V. Nagarajan, S. B. Ogale, A. L. Roytburd, E. D. Williams, and R. Ramesh, Appl. Phys. Lett. 77, 3275 (2000).
11. C. S. Ganpule, A. L. Roytburd, V. Nagarajan, B. K. Hill, S. B. Ogale, E. D. Williams, R. Ramesh, and J. F. Scott, Phys. Rev. B 65, 014101 (2001).
12. F. F. Lange, Science 273, 903 (1996).
13. A. T. Chien, J. Sachleben, J. H. Kim, J. S. Speck, and F. F. Lange, J. Mater. Res. 14, 3303 (1999).
14. A. T. Chien, X. Xu, J. H. Kim, J. Sachleben, J. S. Speck, and F. F. Lange, J. Mater. Res. 14, 3330 (1999).
15. W. W. Jung, H. C. Lee, W. S. Ahn, S. H. Ahn, and S. K. Choi, Appl. Phys. Lett. 86, 252901 (2005).
16. L. M. Eng, Nanotechnology 10, 405 (1999).
17. A. Gruverman, O. Auciello, R. Ramesh, and H. Tokumoto, Nanotechnology 8, A38 (1997).
18. P. Wurfel and I. P. Batra, Phys. Rev. B 8, 5126 (1973).
19. P. Wurfel, I. P. Batra, and J. T. Jacobs, Phys. Rev. Lett. 23, 1218 (1973).
20. M. Molotskii, J. Appl. Phys. 93, 6234 (2003).
21. A. Y. Emelyanov, Phys. Rev. B 71, 132102 (2005).
22. M. Molotskii, A. Agronin, P. Urenski, M. Shvebelman, G. Rosenman, and Y. Rosenwaks, Phys. Rev. Lett. 90, 107601 (2003).
23. X. Li, A. Mamchik, and I.-W. Chen, Appl. Phys. Lett. 79, 809 (2001).