Synthesis and characterization of Ni:SiO2 nanocomposites processed as thin films;Síntese e caracterização de nanocompósitos Ni:SiO2 processados na forma de filmes finos

Quimica Nova

Volumn 28, Issue 5, 2005, Pages 842-846

  Gouveia, Paulo Sérgio ^a   Escote, Marcia Tsuijama ^a   Longo, Elson ^a   Leite, Edson R ^a   Carreño, Neftali L V ^b   Fonseca, Fabio C ^c   Jardim, Renato De F ^d  

^a FEDERAL UNIVERSITY OF SÃO CARLOS   (Brazil)

^b FEDERAL UNIVERSITY OF SERGIPE   (Brazil)

^c INSTITUTO DE PESQUISAS ENERGÉTICAS E NUCLEARES   (Brazil)

^d UNIVERSITY OF SÃO PAULO   (Brazil)

Author keywords

Magnetic nanoparticles; Polymeric precursor method; Thin films

Indexed keywords

EID: 30844431543     PISSN: 01004042     EISSN: 01004042     Source Type: Journal    
DOI: 10.1590/s0100-40422005000500022     Document Type: Article

References (51)

1. Marti, O.; Binnig, G.; Rohrer, H.; Salemink, H.; Surf. Sci. 1987, 181, 230.
2. Batson, P. E.; Dellby, N.; Krivanek, O. L.; Nature 2002, 418, 617.
3. Poncharal, P.; Wang, Z. L.; Ugarte, D.; de Heer, W. A.; Science 1999, 283, 1513.
4. Bonard, J. M.; Forró, L.; Ugarte, D.; de Herr, W. A.; Châtelain, A.; Eur. Chem. Chron. 1998, 3, 9.
5. Maciel, A. P.; Longo, E.; Leite. E. R.; Quim. Nova 2003, 26, 855.
6. Knobel, M.; Rev. Bras. Ens. Fis. 2000, 22, 3.
7. Knobel, M.; Denardin, J. C.; Brandl, A. L.; Cezar, J. C.; Panissod, P.; III Escola Brasileira de Magnetismo Jorge André Swieca, Porto Alegre, Brasil, 2001.
8. García-Otero, J.; Porto, M.; Rivas, J.; Bunde, A.; Phys. Rev. Lett. 2000, 84, 167.
9. Jamet, M.; Wernsdorfer, W.; Thirion, C.; Mailly, D.; Dupuis, V.; Mélinon, P.; Pérez, A.; Phys. Rev. Lett. 2001, 86, 4676.
10. Lee, M.; Kim, T. S.; Choi, Y. S.; J. Non-Cryst. Solids 1997, 211, 143.
11. Valentini, A.; Carreño. N. L. V.; Leite, E. R.; Probst, L. F. D.; Lisboa-Filho, P. N.;Schreiner, W. H.; Leite, E. R.; Longo, E.; Appl. Catal., A 2003, 255, 211.
12. Baibich, M. N.; Broto, J. M.; Fert, A.; Nguyen, V. D.; Petroff, F.; Eitenne, P.; Creuzet, G.; Friederich, A.; Chazelas, J.; Phys. Rev. Lett. 1988, 61, 2742.
13. Pakhomov, A. B.; Yan, X.; Zhao, B.; Appl. Phys. Lett. 1995, 67, 3497.
14. Denardin, J. C.; Pakhomov, A. B.; Knobel, M.; Liu, H.; Zhang, X. X.; J. Phys.: Condens. Matter. 2000, 12, 3397.
15. Gittleman, J. I.; Goldstein, Y.; Bozowski. S.; Phys. Rev. B: Condens. Matter Mater. Phys. 1972, 5, 3609.
16. Guimarães, A. P.; Rev. Bras. Ens. Fís. 2000, 22, 382.
17. Chien, C. L.; J. Appl. Phys. 1991, 69, 5268.
18. Munford, M. L.; Seligman, L.; Sartorelli, M. L.; Voltolini, E.; Martins, L. F. O.; Schwarzacher, W.; Pasa, A. A.; J. Magn. Magn. Mater. 2001, 226-230, 1613.
19. Hahn, H.; Averback. R. S.; J. Appl. Phys. 1990, 67, 1113.
20. Chiriac, H.; Rusu, F.; Urse, M.; Sens. Actuators, A 1997, 62, 687.
21. Dureuil, V.; Ricolleau, C.; Gandais, M.; Grigis, C.; Lacharme, J.P.; Naudon, A.; J. Cryst. Growth 2001, 233, 737.
22. Frydman. A; Kirk. T. L.; Dynes. R. C.; Solid State Commun. 2000, 114, 481.
23. Osaka, T.; Electrochim. Acta 2000, 45, 3311.
24. Takano, N.; Niwa, D.; Yamada, T.; Osaka, T.; Electrochim. Acta 2000, 45, 3263.
25. Liu, X.; Fu, L.; Hong, S.; Dravid. V. P.; Mirkin, C. A.; Adv. Mater. 2004, 14, 231.
26. Hong, S.; Mirkin, C. A.; Science 2000, 288, 1808.
27. Ameida, R. M.; Marques, A. C.; J. Sol-Gel Sci. Technol. 2003, 26, 891.
28. Panda, S. K.; Chakrabarti, S.; Satpati, B.; Satyam, P. V.; Chaudhuri, S.; J. Phys. D: Appl. Phys. 2004, 37, 628.
29. Kodama, R. H.; Edelstein, A. S.; J. Appl. Phys. 1999, 85, 4316.
30. Takano, N.; Hosodo, N.; Yamada, T.; Osaka, T.; J. Electrochem. Soc. 1999, 146, 1407.
31. Estournés, C.; Lutz, T.; Happich, J.; Quaranta, T.; Wissler, P.; Guille, J. L.; J. Magn. Magn. Mater. 1997, 173, 83.
32. Leite, E. R.; Carreño, N. L. V.; Longo, E.; Valentini, A.; Probst, L. F. D.; J. Nanosci. Nanotechnol. 2002, 2, 89.
33. Zanetti, S. M.; Leite, E. R.; Longo, E.; Varela, J. A.; Appl. Organomet. Chem. 1999, 13, 373.
34. Rangel, J. H.; Carreño, N. L. V.; Leite, E. R.; Longo, E.; Campos, C. E. M.; Jr. Lanciotti, F.; Pizani, P. S.; Varela, J. A.; J. Lumin. 2002, 99, 85.
35. Leite, E. R.; Carreño, N. L. V.; Longo, E.; Pontes, F. M.; Barison, A.; Ferreira, A. G.; Maniette, Y.; Varela, J. A.; Chem. Mater. 2002, 14, 3722.
36. Zych, D.; Patwa, A.; Kher, S. S.; Spencer, J. T.; Kushneir, J.; Goodby, A. J.; Boag, N. M.; Dowben, P. A.; J. Appl. Phys. 1994, 76, 3684.
37. Carreño, N. L. V.; Leite, E. R.; Santos, L. P. S.; Lisboa-Filho, P. N.; Longo, E.; Araújo, G. C. L.; Barison, A.; Ferreira, A. G.; Valentini, A.; Probst, L. F. D.; Quim. Nova 2002, 25, 935.
38. Lee, J. S.; Kim, B. S.; Mater. Trans. 2001, 42, 1607.
39. Wu, X.; Ossadnik, C.; Eggs, C.; Veprek, S.; Phillipp, F.; J. Vac. Sci. Technol., B 2002, 20, 1638.
40. Hwang, B. H.; J. Phys. D: Appl. Phys. 2001, 34, 2469.
41. Chang. S. L.; Multiple Diffraction of X-Rays in Crystals, Springer-Verlag: Berlin, 1984.
42. Wu, M. F.; De Wachter, J.; van Bavel, A. M.; Moons, R.; Vantomme, A.; Pattyn, H.; Langouche, G.; Bender, H.; Vanhellemont, J.; Temst, K.; Bruynseraede, Y.; J. Appl. Phys. 1995, 78, 1707.
43. Yang, H.; Pinizzotto, R. F.; Luo, L.; Namavar, F.; Appl. Phys. Lett. 1993, 62, 2694.
44. Klug, H.; Alexander, L.; X-Ray Diffraction Procedures, John Willey and Sons: New York, 1954.
45. Nuffield, E. W.; X-Ray Diffraction Methods, John Willey and Sons: New York, 1986.
46. Palosz, B.; Grzanka, E.; Gierlotka, S.; Stel'makh, S.; Pielaszek, R.; Bismayer, U.; Neuefeind, J.; Weber, H. P.; Proffen, T.; Von Dreele, R.; Palosz, W.; Z. Kristallogr. 2002, 217, 497.
47. Carreño, N. L. V.; Tese de Doutorado, Universidade Federal de São Carlos, Brasil, 2002.
48. Fonseca, F. C.; Goya, G. F.; Jardim, R. F.; Carreño, N. L. V.; Longo. E.; Leite, E. R.; Muccillo, R.; Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 2003, 76, 621.
49. Fonseca. F. C.; Goya. G. F.; Jardim. R. F.; Muccillo. R.; Carreño. N. L. V.; Longo. E.; Leite. E. R.; Phys. Rev. B: Condens. Matter Mater. Phys. 2002, 66, 104406.
50. Stoner, E. C.; Wohlfarth, E. P.; Philos. Trans. R. Soc. London, Ser. A 1948, 240, 599.
51. Cullity, J. B. D.; Introduction to Magnetic Materials, Addison-Wesley, Reading, Mass., 1972.