Epitaxial growth and optimization of ZnO films by pulsed laser deposition

Journal of the Korean Physical Society

Volumn 44, Issue 5 I, 2004, Pages 1123-1127

  Liu, Z F ^a,b   Shan, F K ^a   Sohn, J Y ^a   Shin, B C ^a   Yu, Y S ^a   Kim, S C ^a   Li, Y X ^b  

^a Dong Eui University   (South Korea)

^b SHANGHAI INSTITUTE OF CERAMICS   (China)

Author keywords

Epitaxial growth; Optical properties; Pulsed laser deposition; Zinc oxide films

Indexed keywords

EID: 2942756192     PISSN: 03744884     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Conference Paper

References (23)

1. E. M. Wong and P. C. Searson. Appl. Phys. Lett. 74, 2939 (1999).
2. F. K. Shan, G. X. Liu, B. I. Kim, B. C. Shin, S. C. Kim and Y. S. Yu, J. Korean Phys. Soc, 42, S1374 (2003).
3. Y. J. Kim, Y. T. Kim, H. K. Yang, J. C. Park, J. I. Han, Y. E. Lee and H. J. Kim, J. Vac. Sci. Technol. A 15, 1103 (1997).
4. B. P. Zhang, L. H. Manh, K. Wakatsuki, K. Tamura, T. Ohnishi, M. Lippmaa, N. Usami, M. Kawasaki, H. Koinuma and Y. Segawa, Jpn. J. Appl. Phys. 42, L264 (2003).
5. X. Q. Wang, H. Iwaki, M. Murakam, X. L. Du, Y. Ishitani and A. Yoshikawa, Jpn. J. Appl. Phys. 42, L99 (2003).
6. N. H. Karam, T. Parodos, P. Colter, D. Mcnulty, W. Rowland, J. Schetzina, N. El-Masry and S. M. Bedair, Appl. Phys. Lett. 67, 94 (1995).
7. F. K. Shan and Y. S. Yu, Thin Solid Films 435, 174 (2003).
8. F. K. Shan and Y. S. Yu, J. Eur. Ceram. Soc. 24, 1869 (2004).
9. C. Belouet, Appl. Surf. Sci. 96-98, 630 (1996).
10. F. K. Shan, B. C. Shin, S. W. Jang and Y. S. Yu, J. Eur. Ceram. Soc. 24, 1015 (2004).
11. F. K. Shan, G. X. Liu, B. I. Kim, B. C. Shin, S. C. Kim and Y. S. Yu, J. Korean Phys. Soc. 42, S1157 (2003).
12. X. W. Sun and H. S. Kwok, J. Appl. Phys. 86, 408 (1999).
13. S. H. Bae, S. Y. Lee, B. J. Jin and S. Im, Appl. Surf. Sci. 154-155, 458 (2000).
14. F. K. Shan, B. C. Shin, S. C. Kim and Y. S. Yu, J. Eur. Ceram. Soc. 24, 1861 (2004).
15. Z. F. Liu, F. K. Shan, Y. X. Li, B. C. Shin and Y. S. Yu, J. Crystal Growth 259, 130 (2003).
16. F. K. Shan, B. I. Kim, G. X. Liu, Z. F. Liu, J. Y. Sohn, W. J. Lee, B. C. Shin and Y. S. Yu, J. Appl. Phys. 95, 4772 (2004).
17. F. K. Shan, B. C. Shin, S. C. Kim and Y. S. Yu, J. Korean Phys. Soc. 42, S1174 (2003).
18. D. H. Zhang, Q. P. Wang and Z. Y. Xue, Appl. Surf. Sci. 207, 20 (2003).
19. S. A. Studeninkin, N. Golego and M. Cocivera, J. Appl. Phys. 84, 2287 (1998).
20. B. J. Jin, S. Im and S. Y. Lee, Thin Solid Films 366, 107 (2000).
21. A. R. Forouhi and I. Bloomer, Phys. Rev. B 38, 1865 (1988).
22. H. G. Tompkins and W. A. McGahan, Spectroscopic Ellipsometry and Reflectmetry (Wiley, New York, 1999), p. 90.
23. H. Yoshikawa and S. Adachi, Jpn. J. Appl. Phys. 36, 6237 (1997).