-
1
-
-
33344462077
-
-
Hiruma, K.; Yazawa, M.; Katsuyama, T.; Ogawa, K.; Haraguchi, K.; Koguchi, M.; Kakibayashi, H. J. Appl. Phys. 1995, 77, 447-462.
-
(1995)
J. Appl. Phys.
, vol.77
, pp. 447-462
-
-
Hiruma, K.1
Yazawa, M.2
Katsuyama, T.3
Ogawa, K.4
Haraguchi, K.5
Koguchi, M.6
Kakibayashi, H.7
-
2
-
-
0035804248
-
-
Duan, X.; Huang, Y.; Cui, Y.; Wang, J.; Lieber, C. M. Nature 2001, 409, 66-69.
-
(2001)
Nature
, vol.409
, pp. 66-69
-
-
Duan, X.1
Huang, Y.2
Cui, Y.3
Wang, J.4
Lieber, C.M.5
-
3
-
-
0037033988
-
-
Gudiksen, M. S.; Lauhon, L. J.; Wang, J.; Smith, D. C.; Lieber, C. M. Nature 2002, 415, 617-620.
-
(2002)
Nature
, vol.415
, pp. 617-620
-
-
Gudiksen, M.S.1
Lauhon, L.J.2
Wang, J.3
Smith, D.C.4
Lieber, C.M.5
-
6
-
-
0032492884
-
-
Tans, S. J.; Verschueren, A. R. M.; Dekker, C. Nature 1998, 393, 49-52.
-
(1998)
Nature
, vol.393
, pp. 49-52
-
-
Tans, S.J.1
Verschueren, A.R.M.2
Dekker, C.3
-
7
-
-
79955991177
-
-
Björk, M. T.; Ohlsson, B. J.; Sass, T.; Persson, A. I.; Thelander, C.; Magnussson, M. H.; Deppert, K.; Wallenberg, L. R.; Samuelson, L. Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 1058-1060.
-
(2002)
Appl. Phys. Lett.
, vol.80
, pp. 1058-1060
-
-
Björk, M.T.1
Ohlsson, B.J.2
Sass, T.3
Persson, A.I.4
Thelander, C.5
Magnussson, M.H.6
Deppert, K.7
Wallenberg, L.R.8
Samuelson, L.9
-
8
-
-
0002614758
-
-
Wu, Y.; Fan, R.; Yang, P. Nano Lett. 2002, 2, 83-86.
-
(2002)
Nano Lett.
, vol.2
, pp. 83-86
-
-
Wu, Y.1
Fan, R.2
Yang, P.3
-
9
-
-
5444234721
-
-
Krishnamachari, U.; Borgstrom, M.; Ohlsson, B. J.; Panev, N.; Samuelson, L.; Seifert, W.; Larsson, M. W.; Wallenberg, L. R. Appl. Phys. Lett. 2004, 85, 2077-2079.
-
(2004)
Appl. Phys. Lett.
, vol.85
, pp. 2077-2079
-
-
Krishnamachari, U.1
Borgstrom, M.2
Ohlsson, B.J.3
Panev, N.4
Samuelson, L.5
Seifert, W.6
Larsson, M.W.7
Wallenberg, L.R.8
-
10
-
-
0036493244
-
-
Steigerwald, D. A.; Bhat, J. C.; Collins, D.; Fletcher, R. M.; Holcomb, M. O.; Ludowise, M. J.; Martin, P. S.; Rudaz, S. L. IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 2002, 8, 310-320.
-
(2002)
IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron.
, vol.8
, pp. 310-320
-
-
Steigerwald, D.A.1
Bhat, J.C.2
Collins, D.3
Fletcher, R.M.4
Holcomb, M.O.5
Ludowise, M.J.6
Martin, P.S.7
Rudaz, S.L.8
-
11
-
-
0006187446
-
-
Parguel, V.; Favennec, P. N.; Gauneau, M.; Rihet, Y.; Chaplain, R.; L'Haridon, H.; Vaudry, C. J. Appl. Phys. 1987, 62, 824-827.
-
(1987)
J. Appl. Phys.
, vol.62
, pp. 824-827
-
-
Parguel, V.1
Favennec, P.N.2
Gauneau, M.3
Rihet, Y.4
Chaplain, R.5
L'Haridon, H.6
Vaudry, C.7
-
12
-
-
0038463461
-
-
Mićić, O. I.; Sprague, J.; Lu, Z.; Nozik, A. J. Appl. Phys. Lett. 1996, 68, 3150-3152.
-
(1996)
Appl. Phys. Lett.
, vol.68
, pp. 3150-3152
-
-
Mićić, O.I.1
Sprague, J.2
Lu, Z.3
Nozik, A.J.4
-
13
-
-
0037069845
-
-
Talapin, D. V.; Gaponik, N.; Borchert, H.; Rogach, A. L.; Haase, M.; Weller, H. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 12659-12663.
-
(2002)
J. Phys. Chem. B
, vol.106
, pp. 12659-12663
-
-
Talapin, D.V.1
Gaponik, N.2
Borchert, H.3
Rogach, A.L.4
Haase, M.5
Weller, H.6
-
14
-
-
0042071524
-
-
Adam, S.; McGinley, C.; Möller, T.; Talapin, D. V.; Borchert, H.; Haase, M.; Weller, H. Eur. Phys. J. D 2003, 24, 373-376.
-
(2003)
Eur. Phys. J. D
, vol.24
, pp. 373-376
-
-
Adam, S.1
McGinley, C.2
Möller, T.3
Talapin, D.V.4
Borchert, H.5
Haase, M.6
Weller, H.7
-
15
-
-
0037172168
-
-
Gudiksen, M. S.; Wang, J.; Lieber, C. M. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 4036-4039.
-
(2002)
J. Phys. Chem. B
, vol.106
, pp. 4036-4039
-
-
Gudiksen, M.S.1
Wang, J.2
Lieber, C.M.3
-
16
-
-
0035943358
-
-
Wang, J.; Gudiksen, M. S.; Duan, X.; Cui, Y.; Lieber, C. M. Science 2001, 293, 1455-1457.
-
(2001)
Science
, vol.293
, pp. 1455-1457
-
-
Wang, J.1
Gudiksen, M.S.2
Duan, X.3
Cui, Y.4
Lieber, C.M.5
-
17
-
-
4243333781
-
-
Kagan, C. R.; Murray, C. B.; Nirmal, M.; Bawendi, M. G. Phys: Rev. Lett. 1996, 76, 1517-1520.
-
(1996)
Phys: Rev. Lett.
, vol.76
, pp. 1517-1520
-
-
Kagan, C.R.1
Murray, C.B.2
Nirmal, M.3
Bawendi, M.G.4
-
18
-
-
0042769310
-
-
De Franceschi, S.; van Dam, J. A.; Bakkers, E. P. A. M.; Feiner, L. F.; Gurevich, L.; Kouwenhoven, L. P. Appl. Phys. Lett. 2003, 83, 344-347.
-
(2003)
Appl. Phys. Lett.
, vol.83
, pp. 344-347
-
-
De Franceschi, S.1
Van Dam, J.A.2
Bakkers, E.P.A.M.3
Feiner, L.F.4
Gurevich, L.5
Kouwenhoven, L.P.6
-
20
-
-
16544366658
-
-
Bakkers, E. P. A. M.; van Dam, J. A.; De Franceschi, S.; Kouwenhoven, L. P.; Kaiser, M.; Verheijen, M.; Wondergem, H.; van der Sluis, P. Nat. Mater. 2004, 3, 769-773.
-
(2004)
Nat. Mater.
, vol.3
, pp. 769-773
-
-
Bakkers, E.P.A.M.1
Van Dam, J.A.2
De Franceschi, S.3
Kouwenhoven, L.P.4
Kaiser, M.5
Verheijen, M.6
Wondergem, H.7
Van Der Sluis, P.8
-
21
-
-
24644482190
-
-
note
-
We advise those working with HF solutions to familiarize themselves with its inherent hazards.
-
-
-
-
23
-
-
19644401178
-
-
Müller, J.; Lupton, J. M.; Rogach, A. L.; Feldmann, J.; Talapin, D. V.; Weller, H. J. Phys. Rev. Lett. 2004, 93, 167402-1-167402-4.
-
(2004)
Phys. Rev. Lett.
, vol.93
, pp. 1674021-1674024
-
-
Müller, J.1
Lupton, J.M.2
Rogach, A.L.3
Feldmann, J.4
Talapin, D.V.5
Weller, H.J.6
|