Effect of SOCl2 treatment on electrical and mechanical properties of single-wall carbon nanotube networks

Journal of the American Chemical Society

Volumn 127, Issue 14, 2005, Pages 5125-5131

  Dettlaff Weglikowska, Urszula ^a   Skákalová, Viera ^a   Graupner, Ralf ^b   Jhang, Sung Ho ^c   Kim, Byung Hoon ^c   Lee, Hyun Jung ^c   Ley, Lothar ^b   Park, Yung Woo ^c   Berber, Savas ^d,e   Tománek, David ^d   Roth, Siegmar ^a  

^a MAX PLANCK INSTITUT FÜR FESTKÖRPERFORSCHUNG   (Germany)

^b UNIVERSITY OF ERLANGEN NUREMBERG   (Germany)

^c Seoul National University   (South Korea)

^d MICHIGAN STATE UNIVERSITY   (United States)

^e UNIVERSITY OF TSUKUBA   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CRYOGENICS; ELECTRIC CONDUCTIVITY; ELECTRIC PROPERTIES; ENERGY DISPERSIVE SPECTROSCOPY; FERMI LEVEL; RAMAN SPECTROSCOPY; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY; SULFUR COMPOUNDS; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

BUCKY PAPER; ELECTRONIC STRUCTURES; FOUR-PROBE MEASUREMENTS; SINGLE-WALL CARBON NANOTUBES (SWNT);

CARBON NANOTUBES;

CARBON NANOTUBE; ORGANIC SOLVENT; SULFUR DERIVATIVE; THIONYL CHLORIDE; UNCLASSIFIED DRUG;

AB INITIO CALCULATION; ARTICLE; CHEMICAL MODIFICATION; DENSITY FUNCTIONAL THEORY; ELECTRIC CONDUCTIVITY; ELECTRON; ENERGY DISPERSIVE X RAY ANALYSIS; MECHANICS; NEAR EDGE X RAY ABSORPTION FINE STRUCTURE; RAMAN SPECTROMETRY; ROOM TEMPERATURE; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY; SEMICONDUCTOR; TEMPERATURE DEPENDENCE; X RAY ANALYSIS; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

EID: 20244372128     PISSN: 00027863     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ja046685a     Document Type: Article

References (51)

1. In Carbon Nanotubes: Synthesis, Structure, Properties and Applications; Dresselhaus, M. S., Dresselhaus, G., Avouris, P., Eds.; Topics in Applied Physics 80; Springer: New York, 2001.
2. Hamon, M. A.; Chen, J.; Hu, H.; Chen, Y.; Itkis, M. E.; Rao, A. M.; Ecklund, P. C.; Haddon, R. C. Adv. Mater. 1999, 11, 834-839.
3. O'Connell, M. J.; Bachilo, S. M.; Huffman, C. B.; Moore, V. C.; Strano, M. S.; Haroz, E. H.; Rialon, K. L.; Boul, P. J.; Noon, W. H.; Kittrell, C.; Ma, J. P.; Hauge, R. H.; Weisman, R. B.; Smalley, R. E. Science 2002, 297, 593-596.
4. Bachilo, S. M.; Strano, M. S.; Kittrell, C.; Hauge, R. H.; Smalley, R. E.; Weisman, R. B. Science 2002, 298, 2361-2366.
5. Davis, V. A.; Ericson, L. M.; Parra-Vasques, A. N. G.; Fan, H.; Wang, Y.; Prieto, V.; Longoria, J. A.; Ramesh, S.; Saini, R. K.; Kittrell, C.; Billups, W. E.; Adams, W. W.; Hauge, R. H.; Smalley, R. E.; Pasqualli, M. Macromolecules 2004, 37, 154-160.
6. Ramesh, S.; Ericson, L. M.; Davis, V. A.; Saini, R. K.; Kittrell, C.; Pasqualli, M.; Billups, W. E.; Adams, W. W.; Hauge, R. H.; Smalley, R. E. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 8794-8798.
7. Bahr, J. L.; Tour, X. M. Chem. Mater. 2001, 13, 3823-3824.
8. Dyke, C. A.; Tour, J. M. Nano Lett. 2003, 3, 1215-1518.
9. Strano, M. S.; Dyke, C. A.; Usrey, M. L.; Barone, P. W.; Allen, M. J.; Shan, H. W.; Kittrell, C.; Hauge, R. H.; Tour, J. M.; Smalley, R. E. Science 2003, 301, 1519-1522.
10. Strano, M. S.; Huffman, C. B.; Moore, V. C.; O'Connell, M. J.; Haroz, E. H.; Hubbard, J.; Miller, M.; Rialon, K.; Kittrell, C.; Ramesh, S.; Hauge, R. H.; Smalley, R. E. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 6979-6985.
11. Hu, H.; Zhao, B.; Hamon, M. A.; Kamaras, K.; Itkis, M. E.; Haddon, R. C. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 14893-14900.
12. Holzinger, M.; Abraham, J.; Whelan, P.; Graupner, R.; Ley, L.; Hennrich, F.; Kappes, M.; Hirsch, A. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 8566-8580.
13. Liang, F.; Sadana, A. K.; Peera, A.; Chattopadhyay, J.; Gu, Z.; Hauge, R. H.; Billups, W. E. Nano Lett. 2004, 4, 1257-1260.
14. Chen, J.; Rao, A. M.; Lyuksyutov, S.; Itkis, M. E.; Hamon, M. A.; Hu, H.; Cohn, R. W.; Eklund, P. C.; Colbert, D. T.; Smalley, R. E.; Haddon, R. C. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 2525-2528.
15. Chen, J.; Hamon, M. A.; Hu, H.; Chen, Y.; Rao, A. M.; Eklund, P. C.; Haddon, R. C. Science 1998, 282, 95-98.
16. Mickelson, E. T.; Huffman, C. B.; Rinzler, A. G.; Smalley, R. E.; Hauge, R. H.; Margrave, J. L. Chem. Phys. Lett. 1998, 296, 188-194.
17. Lee, R. S.; Kim, H. J.; Fischer, J. E.; Thess, A.; Smalley, R. E. Nature 1997, 388, 255-257.
18. Lee, R. S.; Kim, H. J.; Fischer, J. E.; Lefebvre, J.; Radosavljevic, M.; Hone, J.; Johnson, A. T. Phys. Rev. B 2000, 61, 4526-4529.
19. Claye, A. S.; Fischer, J. E.; Huffman, C. B.; Rinzler, A. G.; Smalley, R. E. J. Electrochem. Soc. 2000, 147, 2845-2852.
20. Rao, A. M.; Eklund, P. C.; Bandow, S.; Thess, A.; Smalley, R. E. Nature 1997, 388, 257-259.
21. Rao, A. M.; Bandow, S.; Richter, E.; Eklund, P. C. Thin Solid Films 1998, 331, 141-147.
22. Kong, J.; Franklin, N. R.; Zhou, C.; Chapline, M. G.; Peng, S.; Cho, K.; Dai, H. Science 2000, 287, 622-625.
23. Collins, P. G.; Bradley, K.; Ishigami, M.; Zettl, A. Science 2000, 287, 1801-1804.
24. Chen, R. J.; Franklin, N. R.; Kong, J.; Cao, J.; Tombler, T. W.; Zhang, Y.; Dai, H. Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 2258-2260.
25. Kong, J.; Dai, H. J. Phys. Chem B 2001, 105, 2890-2893.
26. Shim, M.; Javey, A.; Kam, N. W. S.; Dai, H. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 11512-11513.
27. Graupner, R.; Abraham, J.; Vencelova, A.; Seyller, T.; Hennrich, F.; Kappes, M. M.; Hirsch, A.; Ley, L. Phys. Chem. Chem. Phys. 2003, 5, 5472-5476.
28. Goldoni, A.; Larciprete, R.; Petaccia, L.; Lizzit, S. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 11329-11333.
29. Takenobu, T.; Takano, T.; Shiraishi, M.; Murakami, Y.; Ata, M.; Kataura, H.; Achiba, Y.; Iwasa, Y. Nat. Mater. 2003, 2, 683-688.
30. Chen, Z.; Du, X.; Du, M.-H.; Rancken, C. D.; Cheng, H.-P.; Rinzler, A. G. Nano Lett. 2003, 3, 1245-1249.
31. Chattopadhyay, D.; Galeska, L.; Papadimitrakopoulos, F. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 3370-3375.
32. Zheng, M.; Jagota, A.; Semke, E. D.; Diner, B. A.; McLean, R. S.; Lustig, S. R.; Richardson, R. E.; Tassi, N. G. Nat. Mater. 2003, 2, 338-342.
33. Chiu, P. W.; Duesberg, G. S.; Dettlaff-Weglikowska, U.; Roth, S. Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 3811-3813.
34. Chiu, P. W.; Kaempgen, M.; Roth, S. Phys. Rev. Lett. 2004, 92, 246802-1-246802-2.
35. Baker, S. E.; Lasseter, T. L.; Smith, L. M.; Hamers, R. J. Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 2003, 737, F4.6.1-F4.6.7.
36. Ordejón, P.; Artacho, E.; Soler, J. M. Phys. Rev. B 1996, 53, R10441-R10444.
37. Sánchez-Portal, D.; Ordejón, P.; Artacho, E.; Soler, J. M. Int. J. Quantum Chem. 1997, 65, 453-461.
38. We found our calculations converged within the double-ζ basis, which is the standard basis set within SIESTA.
39. Fisher, J. E.; Dai, H.; Thess, A.; Lee, R.; Hanjani, N. M.; Dehaas, D. L.; Smalley, R. E. Phys. Rev. B 1997, 55, R4921-R4924.
40. Fisher, J. E.; Zhou, W.; Vavro, J.; Llaguno, M. C.; Guthy, C.; Haggenmueller, R.; Casavant, M. J.; Walters, D. E.; Smalley, R. E. J. Appl. Phys. 2003, 93, 2157-2163.
41. Skakalova, V.; Dettlaff-Weglikowska, U.; Roth, S. Diamond Relat. Mater. 2004, 13, 296-298.
42. Kaiser, A. B.; Duesberg, G.; Roth, S. Phys. Rev. B 1998, 57, 1418-1421.
43. Baughman, R. H.; Zakhidov, A. A.; De Heer, W. A. Science 2002, 297, 787-792.
44. Dettlaff-Weglikowska, U.; Skakalova, V.; Graupner, R.; Ley, L.; Roth, S. Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 2003, 772, 179-185.
45. Kavan, L.; Dunsch, L. Nano Lett. 2003, 3, 969-972.
46. Heller, D. A.; Barone, P. W.; Swanson, J. P.; Mayrhofer, R. M.; Strano, M. S. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 6905-6909.
47. Brown, S. D. M.; Jorio, A.; Corio, P.; Dresselhaus, M. S.; Dresselhaus, G.; Saito, R.; Kneipp, K. Phys. Rev. B 2001, 63, 155414-1-155414-8.
48. Ruangchuay, L.; Schwank, J.; Sirivat, A. Appl. Surf. Sci. 2002, 199, 128-137.
49. Beamson, G.; Briggs, D. High-resolution XPS of Organic Polymers; John Wiley & Sons: Chichester, 1992.
50. Gmelins Handbuch der Anorganischen Chemie; Verlag Chemie GmbH: Weinheim 1963; Teil B, Nr. 9, p 315.
51. Kuznetsova, A.; Popova, I.; Yates, J. T., Jr.; Bronikowski, M. J.; Huffman, C. B.; Liu, J.; Smalley, R. E.; Hwu, H. H.; Chen, J. G. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 10699-10704.