A diameter-selective attack of metallic carbon nanotubes by nitronium ions

Journal of the American Chemical Society

Volumn 127, Issue 14, 2005, Pages 5196-5203

  An, Kay Hyeok ^a   Park, Jin Sung ^a   Yang, Cheol Min ^a   Jeong, Seung Yol ^a   Lim, Seong Chu ^a   Kang, Chul ^b   Son, Joo Hiuk ^b   Jeong, Mun Seok ^c   Lee, Young Hee ^a  

^a Sungkyunkwan University   (South Korea)

^b University of Seoul   (South Korea)

^c Gwangju Institute of Science and Technology (GIST)   (South Korea)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AMORPHOUS MATERIALS; CARBON; CARRIER CONCENTRATION; INTERCALATION COMPOUNDS; POWDER METALS; RAMAN SCATTERING; SOLUTIONS;

CHLOROFORM SOLUTIONS; METALLIC CARBON NANOTUBES; NITRONIUM IONS; SINGLE-WALLED CARBON NANOTUBE (SWNT);

CARBON NANOTUBES;

CARBON; CHLOROFORM; NANOTUBE;

ABSORPTION SPECTROSCOPY; ARTICLE; BROMINATION; DEVICE; HYDROGENATION; ION TRANSPORT; NANOTECHNOLOGY; OPTICAL BIOSENSOR; PHASE SEPARATION; RAMAN SPECTROMETRY; SAMPLING; SEMICONDUCTOR;

EID: 17144380786     PISSN: 00027863     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ja0428199     Document Type: Article

References (36)

1. Krupke, R.; Hennrich, F.; Löhneysen, H. V.; Manfred, M.; Kappes, M. M. Science 2003, 301, 344-347.
2. Zheng, M.; Jagota, A.; Strano, M. S.; Santos, A. P.; Barone, P.; Chou, S. G.; Diner, B. A.; Dresselhaus, M. S.; Mclean, R. S.; Onoa, G. B.; Samsonidze, G. G.; Semke, E. D.; Usrey, M.; Walls, D. J. Science 2003, 302, 1545-1548.
3. Chattopadhyay, D.; Galeska, I.; Papadimitrakopoulos, F. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 3370-3375.
4. Chen, Z.; Du, X.; Rancken, C. D.; Cheng, H.-P.; Rinzler, A. G. Nano Lett. 2003, 3, 1245-1249.
5. Samsonidze, G. G.; Chou, S. G.; Santos, A. P.; Brar, V. W.; Dresselhaus, M. S.; Selbst, A.; Swan, A. K.; Unlu, M. S.; Goldberg, B. B.; Chattopadhyay, D.; Kim, S. N.; Papadimitrakopoulos, F. Appl. Phys. Lett. 2004, 85, 1006-1008.
6. Kim, K. S.; Bae, D. J.; Kim, J. R.; Park, K. A.; Lim, S. C.; Kim, J.-J.; Choi, W. B.; Park, C. Y.; Lee, Y. H. Adv. Mater. 2002, 14, 1818-1821.
7. An, K. H.; Heo, J. G.; Jeon, K. G.; Bae, D. J.; Jo, C.; Yang, C. W.; Park, C.-Y.; Lee, Y. H. Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 4235-4237.
8. An, K. H.; Park, K. A.; Heo, J. G.; Jeon, Lim, S. C.; Yang, C. W.; Lee, Y. S.; Lee, Y. H. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 3057-3061.
9. Strano, M. S.; Dyke, C. A.; Usrey, M. L.; Barone, P. W.; Allen, M. J.; Shan, H.; Kittrell, C.; Hauge, R. H.; Tour, J. M.; Smalley, R. E. Science 2003, 301, 1519-1522.
10. Yudasaka, M.; Zhang, M.; Iijima, S. Chem. Phys. Lett. 2003, 374, 132-136.
11. Banerjee, S.; Wong, S. S. Nano Lett. 2004, 4, 1445-1450.
12. Forsman, W. C.; Mertwoy, H. E. Synth. Met. 1980, 2, 171-176.
13. Choi, H. C.; Kim, S. Y.; Jang, W. S.; Bae, S. Y.; Park, J.; Kim, K. L.; Kim, K. Chem. Phys. Lett. 2004, 399, 255-259.
14. Biniak, S.; Szymański, G.; Siedlewski, J.; Światkowski, A. Carbon 1997, 35, 1799-1810.
15. Kuzmany, H.; Plank, W.; Hulman, M.; Kramberger, C.; Gruneis, A.; Pichler, T.; Perterlik, H.; Achiba, Y. Eur. Phys. J. B 2001, 22, 307.
16. Kataura, H.; Kumaza, Y.; Maniwa, Y.; Umezu, I.; Suzuki, S.; Ohtsuka, Y.; Achiba, Y. Synth. Met. 1999, 103, 2555-2558.
17. An, L.; Fu, Q.; Lu, C.; Liu, J. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 10520-10521.
18. Kukovecz, A.; Pichler, T.; Pfeiffer, R.; Kuzmany, H. Chem. Commun. 2002, 1730-1731.
19. Kukovecz, A.; Pichler, T.; Kramberger, C.; Kuzmany, H. Chem. Commun. 2003, 5, 582-587.
20. Kavan, L.; Dunsxh, L. Nano Lett. 2003, 3, 969-972.
21. Oh, D.-H.; Lee, Y. H. Phys. Rev. B 1998, 58, 7407-7411.
22. Seo, K.; Kim, C.; Park, K. A.; Han, S.; Kim, B.; Lee, Y. H. unpublished.
23. Brown, S. D. M.; Jorio, A.; Corio, P.; Dresselhaus, M. S.; Dresselhaus, G.; Saito, R.; Kneipp, K. Phys. Rev. B 2000, 63, 155414.
24. Okpalugo, T. I. T.; Papakonstantinou, P.; Murphy, H.; McLaughlin, J.; Brown, N. M. D. Carbon 2004, 43, 153-161
25. Hayashi, T. Nano Lett. 2004, 4, 1001.
26. Zeng, D. W.; Zhu, B. L.; Xie, C. S.; Song, W. L.; Wang, A. H. Mater. Sci. Eng. 2004, A366, 332-337.
27. Jeon, T.-I.; Kim, K.-J.; Kang, C.; Oh, S.-J.; Son, J.-H.; An, K. H.; Bae, D. J.; Lee, Y. H. Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 3403-3405.
28. Jeon, T.-I.; Kim, K.-J.; Kang, C.; Oh, S.-J.; Son, J.-H.; An, K. H.; Lee, J. Y.; Lee, Y. H. J. Appl. Phys. 2004, 95, 5736-5740.
29. Duvilaret, L.; Garet, F.; Coutaz, J.-L. IEEE J. Sci. Top. Quantum Electron. 1996, 2, 739-746.
30. Mintmire, J. W.; White, C. T. Phys. Rew. Lett. 1998, 81, 2506-2509.
31. Saito, R.; Dresselhaus, G.; Dresselhaus, M. S. Phys. Rev. B 2000, 61, 2981-2990.
32. Reich, S.; Thomsen, C. Phys. Rev. B 2000, 62, 4273-4276.
33. Itkis, M. E.; Perea, D. E.; Niyogi, S.; Rickard, S. M.; Hamon, M. A.; Hu, H.; Zho, B.; Haddon, R. C. Nano Lett. 2003, 3, 309-314.
34. Liu, X.; Pichler, T.; Knupfer, M.; Golden, M. S.; Fink, J.; Kataura, H.; Achiba, Y. Phys. Rev. B 2002, 66, 045411.
35. 0 is the tight-binding parameter of the nearest neighbor overlap integral (2.9 ± 0.5 eV), and d is diameter in nanometers.
36. Hamon, M. A.; Itkis, M. E.; Nigogi, S.; Alvaraez, T.; Kuper, C.; Menon, M.; Haddon, R. C. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 11292-11293.