Nucleation of trace copper on the H-Si(111) surface in aqueous fluoride solutions

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 102, Issue 41, 1998, Pages 7919-7923

  Homma, Takayuki ^a   Wade, Christopher P ^b   Chidsey, Christopher E D ^b  

^a WASEDA UNIVERSITY   (Japan)

^b STANFORD UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 11644297902     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp982109n     Document Type: Article

References (26)

1. Kern, W. J. Electrochem. Soc. 1990, 137, 1887.
2. Hiraiwa, A.; Itoga, T. IEEE Trans. Semicond. Manufact. 1994, 7, 60.
3. Norga, G. J.; Kimerling, L. C. J. Electron. Mater. 1995, 24, 397.
4. Ajioka, T.; Shibata, M.; Mizokami, Y. IEICE Trans. Electron., E79-C, 1996, 337.
5. Morinaga, H.; Suyama, M.; Nose, M.; Verhaverbeke, S.; Ohmi, T. IEICE Trans. Electron., E79-C, 1996, 343.
6. Chyan, O. M. R.; Chen, J. J.; Chien, H. Y.; Sees, J.; Hall, L. J. Electrochem. Soc. 1996, 143, 92.
7. Jeon, J. S.; Raghavan, S.; Parks, H. G.; Lowell, J. K.; Ali, I. J. Electrochem. Soc. 1996, 143, 2870.
8. Norga, G. J.; Platero, M.; Black, K. A.; Reddy, A. J.; Michel, J.; Kimerling, L. C. J. Electrochem. Soc. 1997, 144, 2801.
9. Bertagna, V.; Rouelle, F.; Chemla, M. Z. Naturforsch., Section A-A, J. Phys. Sci. 1997, 52, 465.
10. Higashi, G. S.; Chabal, Y. J.; Trucks, G. W.; Raghavachari, K. Appl. Phys. Lett. 1990, 12, 656.
11. Wade, C. P.; Chidsey, C. E. D. Appl. Phys. Lett. 1997, 71, 1679.
12. Wade, C. P.; Dunbar, W. L.; Chidsey, C. E. D. Submitted to Anal. Chem.
13. Heben, M. J.; Dovek, M. M.; Lewis, N. S.; Penner, R. M.; Quate, C. F. J. Microsc. 1988, 152, 651.
14. Homma, T.; Wade, C. P.; Chidsey, C. E. D. in preparation.
15. Bockris, J. O'M.; Razumney, G. A. Fundamental Aspects of Electrocrystallyzation; Plenum Press: New York 1967; p 36.
16. Bard, A. J.; Parsons, R.; Jordan, J. Standard Potentials in Aqueous Solutions; Marcel Dekker: New York, 1985.
17. Luo, H.; Chidsey, C. E. D. Appl. Phys. Lett. 1998, 72, 477.
18. von Piechowski, M.; Nauser, T.; Hoigne, J.; Buhler, R. E. Ber. Bunsen-Ges. Phys. Chem. 1993, 97, 762.
19. Ravani, J.; Klug-Roth, D.; Lilie, J. J. Phys. Chem. 1973, 77, 1169.
20. Nichols, R. J.; Kolb, D. M.; Behm, R. J. J. Electroanal. Chem. 1991, 313, 109.
21. Hendricks, S. A.; Kim, K. T.; Bard, A. J. J. Electrochem. Soc. 1992, 139, 2818.
22. Potzschke, R. T.; Gervasi, C. A.; Vinzelberg, S.; Staikov, G.; Lorenz, W. J. Electrochim. Acta 1995, 40, 1469.
23. Francis, G. M.; Goldby, I. M.; Kuipers, L.; Vonissendorff, B.; Palmer, R. E. J. Chem. Soc., Dalton Trans. 1996, 665.
24. Williams, E. D.; Bartelt, N. C. Science 1991, 251, 393.
25. Ardizzoia, G. A.; Angaroni, M.; Lamonica, G.; Cariati, F.; Moret, M.; Masciocchi, N. J. Chem. Soc., Chem. Commun. 1990, 1021.
26. Cerofolini, G. F.; Meda, L. Appl. Surf. Sci. 1995, 89, 351.