Dielectric studies of ZnSe1-xTex epilayers

Applied Physics Letters

Volumn 78, Issue 13, 2001, Pages 1909-1911

  Lin, H M ^a   Chen, Y F ^a   Shen, J L ^b   Chou, C W ^b  

^a NATIONAL TAIWAN UNIVERSITY   (Taiwan)

^b CHUNG YUAN CHRISTIAN UNIVERSITY   (Taiwan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0346511744     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1355015     Document Type: Article

References (27)

1. D. J. Chadi, Phys, Rev. Lett. 72, 534 (1994).
2. A. Nauov, H. Stanzl, K. Lankes, and W. Gebhardt, J. Appl. Phys. 74, 6178 (1993).
3. J. D. Dow, R. D. Hong, S. Klemm, S. Y. Ren, M. H. Tsai, O. F. Sankey, and R. V. Kasowski, Phys. Rev. B 43, 4396 (1991).
4. M. J. S. P. Brasil, R. E. Nahory, F. S. Turco-Sandroff, H. L. Gilchrist, and R. J. Martin, Appl. Phys. Lett. 58, 2509 (1991).
5. B. Feytag, P. Pavone, U. Rossler, K. Wolf, S. Lankes, G. Schotz, A. Naumov, S. Jilka, H. Stanzl, and W. Gebhart, Solid State Commun. 94, 103 (1995).
6. J. E. Bernard and A. Zunger, Phys. Rev. B 34, 5992 (1996), and references therein.
7. S. P. Ahrenkiel, S. H. Xin, P. M. Reimer, J. J. Berry, H. Luo, S. Short, M. Bode, M. Al-Jassim, J. R. Buschert, and J. K. Furdyna, Phys. Rev. Lett. 75, 1586 (1995).
8. S. Lee, T. Bindley, and J. K. Furdyna, J. Vac. Sci. Technol. B 18, 1518 (2000).
9. A. Kamata, H. Yoshida, S. Chichibu, and H. Nakanishi, J. Cryst. Growth 170, 518 (1997).
10. C. S. Yang, W. C. Chou, D. M. Chen, C. S. Ro, and J. L. Shen, Phys. Rev. B 59, 8128 (1999).
11. J. W. Chen, J. C. Wang, and Y. F. Chen, Physica C 289, 131 (1997).
12. J. S. Su, J. C. Wang, and Y. F. Chen. J. Appl. Phys. 86, 1630 (1999).
13. G. B. Alers, B. Golding, A. R. Kortan, R. C. Haddon, and F. A. Theil. Science 257, 511 (1992).
14. P. W. Zukowski, S. B. Kantorow, D. Maczka, and V. F. Stelakh, Phys. Status Solidi A 112, 695 (1989).
15. A. Vasudevan, S. Carin, M. R. Melloch, and E. S. Harmon, Appl. Phys. Lett. 73, 671 (1998).
16. T. B. Stellwag, M. R. Melloch, J. A. Cooper, Jr., S. T. Sheppard, and D. D. Nolte, J. Appl. Phys. 71, 4509 (1992).
17. L. C. Calhoun and R. M. Park, J. Appl. Phys. 85, 490 (1999).
18. A. R. Reinberg, W. C. Holton, M. de Wit, and R. K. Watts, Phys. Rev. B 3, 410 (1971).
19. S. Myhajlenko, J. L. Batstone, H. J. Hutchinson, and J. W. Steeds, J. Phys. C 17, 6477 (1984).
20. B. J. Skromme, S. M. Shibli, J. L. de Miguel, and M. C. Tamargo, J. Appl. Phys. 65, 3999 (1989).
21. G. B. Stringfellow and R. H. Bube, Phys. Rev. 171, 903 (1968).
22. W. H. Fonger, Phys. Rev. 137, 1038 (1965).
23. D. Block and R. T. Cox, J. Lumin, 24/25, 167 (1981).
24. J. Samuelson, S. Nilsson, Z. G. Wang, and H. G. Grimmeiss, Phys. Rev. Lett. 53, 1501 (1984).
25. A. Zunger, Phys. Rev. Lett. 54, 849 (1985).
26. J. Criado, A. Gomez, E. Munoz, and E. Calleja, Appl. Phys. Lett. 49, 1790 (1986).
27. A. Zerrai, G. Marrakchi, and G. Bremond, J. Appl. Phys. 87, 4293 (2000).