-
1
-
-
0033446007
-
-
Hayashi H., Morishita S., Tatsumi T., Hikosaka Y., Noda S., Nakagawa H., Kobayashi S., Inoue M., Hoshino T. J. Vac. Sci. Technol. A. 17:1999;2557.
-
(1999)
J. Vac. Sci. Technol. a
, vol.17
, pp. 2557
-
-
Hayashi, H.1
Morishita, S.2
Tatsumi, T.3
Hikosaka, Y.4
Noda, S.5
Nakagawa, H.6
Kobayashi, S.7
Inoue, M.8
Hoshino, T.9
-
2
-
-
0035932847
-
-
Goyette A.N., de Urquijo J., Wang Y., Christopherou L.G., Orloff J.K. J. Chem. Phys. 114(20):2001;8932.
-
(2001)
J. Chem. Phys.
, vol.114
, Issue.20
, pp. 8932
-
-
Goyette, A.N.1
De Urquijo, J.2
Wang, Y.3
Christopherou, L.G.4
Orloff, J.K.5
-
3
-
-
0000262285
-
-
Minton T.K., Felder P., Scales R.C., Huber J.R. Chem. Phys. Lett. 164(2,3):1989;113.
-
(1989)
Chem. Phys. Lett.
, vol.164
, Issue.2-3
, pp. 113
-
-
Minton, T.K.1
Felder, P.2
Scales, R.C.3
Huber, J.R.4
-
5
-
-
22644452583
-
-
Raoux S., Tanaka T., Bahn M., Ponnekanti H., Seamons M., Deacon T., Xia L.-Q., Pham F., Silvetti D., Cheung D., Fairbairn K. J. Vac. Sci. Technol. B. 71(2):1999;477.
-
(1999)
J. Vac. Sci. Technol. B
, vol.71
, Issue.2
, pp. 477
-
-
Raoux, S.1
Tanaka, T.2
Bahn, M.3
Ponnekanti, H.4
Seamons, M.5
Deacon, T.6
Xia, L.-Q.7
Pham, F.8
Silvetti, D.9
Cheung, D.10
Fairbairn, K.11
-
6
-
-
0034954833
-
-
Acerboni G., Buekes J.A., Jensen N.R., Hjorth J., Myhre G., Nielsen C.J., Sundet J.K. Atm. Environ. 35:2001;4113.
-
(2001)
Atm. Environ.
, vol.35
, pp. 4113
-
-
Acerboni, G.1
Buekes, J.A.2
Jensen, N.R.3
Hjorth, J.4
Myhre, G.5
Nielsen, C.J.6
Sundet, J.K.7
-
9
-
-
0037077697
-
-
Kitajima M., Okamoto M., Sunohara K., Tanaka H., Cho H., Samukawa S., Eden S., Mason N.J. J. Phys. B. 35:2002;3257.
-
(2002)
J. Phys. B
, vol.35
, pp. 3257
-
-
Kitajima, M.1
Okamoto, M.2
Sunohara, K.3
Tanaka, H.4
Cho, H.5
Samukawa, S.6
Eden, S.7
Mason, N.J.8
-
11
-
-
0037437610
-
-
Mason N.J., Limão-Vieira P., Eden S., Kendall P., Pathak S., Dawes A., Tennyson J., Tegeder P., Kitajima M., Okamoto M., Sunohara K., Tanaka H., Cho H., Samukawa S., Hoffmann S., Newnham D., Spyrou S.M. Int. J. Mass Spec. 223-224:2003;647.
-
(2003)
Int. J. Mass Spec.
, vol.223-224
, pp. 647
-
-
Mason, N.J.1
Limão-Vieira, P.2
Eden, S.3
Kendall, P.4
Pathak, S.5
Dawes, A.6
Tennyson, J.7
Tegeder, P.8
Kitajima, M.9
Okamoto, M.10
Sunohara, K.11
Tanaka, H.12
Cho, H.13
Samukawa, S.14
Hoffmann, S.15
Newnham, D.16
Spyrou, S.M.17
-
13
-
-
33845425707
-
-
Yoshida K., Goto S., Tagashira H., Winstead C., Mckoy B.V., Morgan W.L. J. Appl. Phys. 91(5):2002;2637.
-
(2002)
J. Appl. Phys.
, vol.91
, Issue.5
, pp. 2637
-
-
Yoshida, K.1
Goto, S.2
Tagashira, H.3
Winstead, C.4
McKoy, B.V.5
Morgan, W.L.6
-
15
-
-
0000730648
-
-
Brundle C.R., Robin M.B., Kuebler N.A., Basch H. J. Am. Chem. Soc. 94(5):1972;1451.
-
(1972)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.94
, Issue.5
, pp. 1451
-
-
Brundle, C.R.1
Robin, M.B.2
Kuebler, N.A.3
Basch, H.4
-
19
-
-
0008160743
-
-
Coggiola M.J., Flicker W.M., Mosher O.A., Kuppermann A. J. Chem. Phys. 65(7):1976;2655.
-
(1976)
J. Chem. Phys.
, vol.65
, Issue.7
, pp. 2655
-
-
Coggiola, M.J.1
Flicker, W.M.2
Mosher, O.A.3
Kuppermann, A.4
-
25
-
-
0000358589
-
-
Delwiche J., Natalis P., Momigny J., Collin J.E., Electron J. Spectrosc. Relat. Phenom. 1:1972;219.
-
(1972)
Spectrosc. Relat. Phenom.
, vol.1
, pp. 219
-
-
Delwiche, J.1
Natalis, P.2
Momigny, J.3
Collin, J.E.4
Electron, J.5
-
27
-
-
0001656830
-
-
Tanaka H., Ishikawa T., Masai T., Sagara T., Boesten L., Takekawa M., Itikawa Y., Kimura M. Phys. Rev. A. 57:1998;1798.
-
(1998)
Phys. Rev. a
, vol.57
, pp. 1798
-
-
Tanaka, H.1
Ishikawa, T.2
Masai, T.3
Sagara, T.4
Boesten, L.5
Takekawa, M.6
Itikawa, Y.7
Kimura, M.8
-
28
-
-
85030906952
-
-
www.isa.au.dk/SR/UV1/uv1.html.
-
-
-
-
29
-
-
0028565733
-
-
Vandaele A.C., Simon P.C., Guilmot J.M., Carleer M., Colin R. J. Geophys. Res. - Atmospheres. 99(D12):1994;25599.
-
(1994)
J. Geophys. Res. - Atmospheres
, vol.99
, Issue.D12
, pp. 25599
-
-
Vandaele, A.C.1
Simon, P.C.2
Guilmot, J.M.3
Carleer, M.4
Colin, R.5
-
34
-
-
0029637658
-
-
Buckley T.J., Johnson R.D., Huie R.E., Zhang Z., Kuo S.C., Klemm R.B. J. Phys. Chem. 99:1995;4879.
-
(1995)
J. Phys. Chem.
, vol.99
, pp. 4879
-
-
Buckley, T.J.1
Johnson, R.D.2
Huie, R.E.3
Zhang, Z.4
Kuo, S.C.5
Klemm, R.B.6
-
36
-
-
0000381767
-
-
Baltzer P., Chau F.T., Eland J.H.D., Karlsson L., Lundqvist M., Rostas J., Tam K.Y., Veenhuizen H., Wannberg B. J. Chem. Phys. 104(22):1996;8922.
-
(1996)
J. Chem. Phys.
, vol.104
, Issue.22
, pp. 8922
-
-
Baltzer, P.1
Chau, F.T.2
Eland, J.H.D.3
Karlsson, L.4
Lundqvist, M.5
Rostas, J.6
Tam, K.Y.7
Veenhuizen, H.8
Wannberg, B.9
-
38
-
-
10044260375
-
-
Rabalais J.W., McDonald J.M., Scherr V., McGlynn S.P. Chem. Rev. 71(1):1971;73.
-
(1971)
Chem. Rev.
, vol.71
, Issue.1
, pp. 73
-
-
Rabalais, J.W.1
McDonald, J.M.2
Scherr, V.3
McGlynn, S.P.4
-
42
-
-
0037120806
-
-
Limão-Vieira P., Eden S., Kendall P.A., Mason N.J., Hoffmann S.V. Chem. Phys. Lett. 364:2002;535.
-
(2002)
Chem. Phys. Lett.
, vol.364
, pp. 535
-
-
Limão-Vieira, P.1
Eden, S.2
Kendall, P.A.3
Mason, N.J.4
Hoffmann, S.V.5
|