Recent progress on BEEM

Ultramicroscopy

Volumn 73, Issue 1-4, 1998, Pages 175-183

  Von Känel, Hans ^a   Meyer, Thomas ^a  

^a ETH ZURICH   (Switzerland)

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BAND STRUCTURE; ELECTRON SPECTROSCOPY; INTERFACES (MATERIALS); POINT DEFECTS; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SCHOTTKY BARRIER DIODES; SURFACE STRUCTURE;

BALLISTIC ELECTRON EMISSION MICROSCOPY; BALLISTIC ELECTRON EMISSION SPECTROSCOPY; BARRIER HEIGHT;

ELECTRON MICROSCOPY;

CONFERENCE PAPER; ELECTRON MICROSCOPY; FLAME PHOTOMETRY; IMAGE PROCESSING; IMAGING SYSTEM; SIGNAL TRANSDUCTION;

EID: 0345337324     PISSN: 03043991     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0304-3991(97)00152-6     Document Type: Conference Paper

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