Low energy electron microscopy of indium on Si(0 0 1) surfaces

Surface Science

Volumn 547, Issue 1-2, 2003, Pages 127-138

  McKay, H A ^a   Feenstra, R M ^a  

^a CARNEGIE MELLON UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

Etching; Indium; Low energy electron microscopy (LEEM); Silicon

Indexed keywords

ETCHING; INDIUM; LOW ENERGY ELECTRON DIFFRACTION; MOLECULAR BEAM EPITAXY; NUCLEATION; REFLECTION HIGH ENERGY ELECTRON DIFFRACTION; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SILICON; SUBSTRATES; THIN FILMS;

SURFACE SEGREGATION;

SURFACE CHEMISTRY;

EID: 0242410536     PISSN: 00396028     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.susc.2003.09.043     Document Type: Article

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