Helium Detection via Field Ionization from Carbon Nanotubes

Nano Letters

Volumn 3, Issue 10, 2003, Pages 1455-1458

  Riley, David J ^a   Mann, Mark ^a   MacLaren, Donald A ^a   Dastoor, Paul C ^a,c   Allison, William ^a   Teo, Kenneth B K ^b   Amaratunga, Gehan A J ^b   Milne, William ^b  

^a UNIVERSITY OF CAMBRIDGE   (United Kingdom)

^b UNIVERSITY OF CAMBRIDGE   (United Kingdom)

^c UNIVERSITY OF NEWCASTLE   (Australia)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CARBON; HELIUM;

ARTICLE; ATOM; ELECTRIC FIELD; GAS; IONIZATION; NANOPARTICLE; VACUUM; VAPOR;

EID: 0242351059     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl034460c     Document Type: Article

References (22)

1. Pauly, H. Atom, molecule and cluster beams; Springer: Berlin, 2000.
2. Farias, D.; Rieder, K.-H. Rep. Prog. Phys. 1998, 61, 1575-1664.
3. Holst, B.; Allison, W. Nature 1997, 390, 244.
4. MacLaren, D. A.; Holst, B.; Riley, D. J.; Allison, W. Surf. Rev. Lett. 2003, 10, 249-255.
5. Jardine, A. P.; Fouquet, P.; Ellis, J.; Allison, W. Rev. Sci. Instrum. 2001, 72, 3834-3841.
6. Braun, J.; Day, P. K.; Toennies, J. P.; Witte, G.; Neher, E. Rev. Sci. Instrum. 1997, 68, 3001-3009.
7. Doak, R. B.; Grisenti, R. E.; Rehbein, S.; Schmahl, G.; Toennies, J. P.; Wöll, Ch. Phys. Rev. Lett. 1999, 83, 4229-4232.
8. Oshima, C.; Matsuda, K.; Kona, T.; Mogami, Y.; Komaki, M.; Murata, Y.; Yamashita, T.; Saito, Y.; Hata, K.; Takakura, A. Jpn. J. Appl. Phys. 2001, 40, L1257-1259.
9. de Jonge, N.; Lamy, Y.; Schoots, K.; Oosterkamp, T. H. Nature 2002, 420, 393-395.
10. Lee, N. S.; Chung, D. S.; Han, I. T.; Kang, J. H.; Choi, Y. S.; Kim, H. Y.; Park, S. H.; Jin, Y. W.; Yi, W. K.; Yun, M. J.; Jung, J. E.; Lee, C. J.; You, J. H.; Jo, S. H.; Lee, C. G.: Kim, J. M. Diam. Relat. Mater. 2001, 10, 265-270.
11. de Heer, W. A.; Châtelain, A.; Ugarte, D. Science 1995, 270, 1179-1180.
12. Bonard, J.-M.; Croci, M.; Klinke, C.; Kurt, R.; Noury, O.; Weiss, N. Carbon 2002, 40, 1715-1728.
13. Miller, M. K.; Cerezo, A.; Hetherington, M. G.; Smith, G. D. W. Atom Probe Field Ion Microscopy; Oxford University Press: Oxford, 1996.
14. McWane, J. W.; Oates, D. E. Rev. Sci. Instrum. 1974, 45, 1145-1148.
15. Teo, K. B. K.; Chhowalla, M.; Amaratunga, G. A. J.; Milne, W. I.; Pirio, G.; Legagneux, P.; Wyczisk, F.; Pribat, D.; Hasko D. G. Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 2011-2013.
16. Teo, K. B. K.; Chhowalla, M.; Amaratunga, G. A. J.; Milne, W. I.; Hasko, D. G.; Pirio, G.; Legagneux, P.; Wyczisk, F.; Pribat D. Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 1534-1536.
17. Dean, K. A.; Chalamala, B. R. Appl. Phys. Lett. 1999, 75, 3017-3019.
18. Hata, K.; Takakura, A.; Saito, Y. Ultramicroscopy 2003, 95, 107-112.
19. Gomer, R. Field emission and field ionization; Harvard University Press: Cambridge, Massachusetts, 1961.
20. Bonard, J.-M.; Salvetat, J.-P.; Stöckli, T.; Forró, L.; Châtelain, A. Appl. Phys. A 1999, 69, 245-254.
21. Bonard, J.-M.; Dean, K. A.; Coll, B. F.; Klinke, C. Phys. Rev. Lett. 2002, 89, 197602.
22. Bonard, J.-M.; Klinke, C.; Dean, K. A.; Coll, B. F. Phys. Rev. B 2003, 67, 115406.