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Volumn 72, Issue 1, 1998, Pages 67-69

Capture of vacancies by extrinsic dislocation loops in silicon

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EID: 0043110145     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.120646     Document Type: Article
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References (15)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.