Investigations on the nature of observed ferromagnetism and possible spin polarization in Co-doped anatase TiO2 thin films

Journal of Applied Physics

Volumn 93, Issue 10 1, 2003, Pages 6125-6132

  Kim, D H ^a   Yang, J S ^a   Lee, K W ^a   Bu, S D ^a   Kim, D W ^a,d   Noh, T W ^a   Oh, S J ^a   Kim, Y W ^a   Chung, J S ^b   Tanaka, H ^c   Lee, H Y ^c   Kawai, T ^c   Won, J Y ^d   Park, S H ^d   Lee, J C ^d  

^a Seoul National University   (South Korea)

^b Soongsil University   (South Korea)

^c OSAKA UNIVERSITY   (Japan)

^d Samsung Advanced Institute of Technology (SAIT)   (South Korea)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

COBALT; DOPING (ADDITIVES); ELECTRIC CONDUCTIVITY; EPITAXIAL GROWTH; FERROMAGNETISM; PARTIAL PRESSURE; POLARIZATION; PULSED LASER DEPOSITION; TITANIUM DIOXIDE;

SPIN POLARIZATION;

THIN FILMS;

EID: 0038311945     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1568524     Document Type: Article

References (29)

1. H. Ohno, Science 281, 951 (1998).
2. Y. D. Park, A. T. Hanbicki, S. C. Erwin, C. S. Hellberg, J. M. Sullivan, J. E. Mattson, T. F. Ambrose, A. Wilson, G. Spanos, and B. T. Jonker, Science 295, 651 (2002).
3. M. Berciu and R. N. Bhatt, Phys. Rev. Lett. 87, 107203 (2001).
4. A. Kaminski and S. Das Sarma, Phys. Rev. Lett. 88, 247202 (2002).
5. G. A. Medvedkin, T. Ishibashi, T. Nishi, and K. Hiyata, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 39, L949 (2000).
6. M. L. Reed, N. A. El-Masry, H. H. Stadelmaier, M. K. Ritums, M. J. Reed, C. A. Parker, J. C. Roberts, and S. M. Bedair, Appl. Phys. Lett. 79, 3473 (2001).
7. K. Ueda, H. Tabata, and T. Kawai. Appl. Phys. Lett. 79, 988 (2001).
8. N. Theodoropoulou, A. F. Hebard, M. E. Overberg, C. R. Abernathy, S. J. Pearton, S. N. G. Chu, and R. G. Wilson, Phys. Rev. Lett. 89, 107203 (2002).
9. G. Schmidt, D. Ferrand, L. W. Molenkamp, A. T. Filip, and B. J. van Wees, Phys. Rev. B 62, R4790 (2000).
10. Y. Matsumoto, M. Murakami, T. Shono, T. Hasagawa, T. Fukumura, M. Kawasaki. P. Ahmet, T. Chikyow, S. Kohsihara, and H. Koinuma, Science 291, 854 (2001).
11. Y. Matsumoto, R. Takahashi, M. Murakami, T. Koida, X.-J. Fan, T. Hasegawa, T. Fukumura, M. Kawasaki, S.-Y. Koshihara, and H. Koinuma, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 40, L1204 (2001).
12. S. A. Chambers, S. Thevuthasan, R. F. C. Farrow, R. F. Marks, J. U. Thiele, L. Folks, M. G. Samant, A. J. Kellock, N. Ruzycki, D. L. Ederer, and U. Diebold, Appl. Phys. Lett. 79, 3467 (2001).
13. S. A. Cahmbers, Materials Today 2002(4), 34 (2002).
14. S. A. Chambers, S. M. Heald, R. F. C. Farrow, J.-U. Thiele, R. F. Marks, M. F. Toney, and A. Chattopadhyay, cond-mat/0208315.
15. W. K. Park, R. J. Ortega-Hertogs, J. S. Moodera, A. Punnoose, and M. S. Seehra, J. Appl. Phys. 91, 8093 (2002).
16. I.-B. Shim, S.-Y. An, C. S. Kim, S.-Y. Choi, and Y. W. Park, J. Appl. Phys. 91, 7914 (2002).
17. S. R. Shinde, S. B. Ogale, S. Das Sarma, S. E. Lofland, V. N. Kulkarni, J. Higgins, R. P. Sharma, R. L. Greene, and T. Venkatesan, cond-mat/0203576.
18. J. R. Simpson, H. D. Drew, S. R. Shinde, Y. Zhao, S. B. Ogale, and T. Venkatesan, cond-mat/0205626.
19. D. H. Kim, J. S. Yang, K. W. Lee, S. D. Bu, T. W. Noh, S.-J. Oh, Y.-W. Kim, J.-S. Chung, H. Tanaka, H. Y. Lee, and T. Kawai, Appl. Phys. Lett. 81, 2421 (2002).
20. J.-Y. Kim, J.-H. Park, B.-G. Park, H.-J. Noh, S.-J. Oh, J. S. Yang, D. H. Kim, S. D. Bu, T. W. Noh, H.-J. Lin, H.-H. Hsieh, and C. T. Chen, Phys. Rev. Lett. 90, 017401 (2003).
21. Y. D. Park, A. Wilson, A. T. Hanbicki, J. E. Mattson, T. Ambrose, G. Spanos, and B. T. Jonker, Appl. Phys. Lett. 78, 2739 (2001).
22. D.-W. Kim, D. H. Kim, B. S. Kang, T. W. Noh, D. R. Lee, and K.-B. Lee, Appl. Phys. Lett. 74, 2176 (1999).
23. M. Murakami, Y. Matsumoto, K. Nakajima, T. Makino, Y. Segawa, T. Chikyow, P. Ahmet, M. Kawasaki, and H. Koinuma, Appl. Phys. Lett. 78, 2664 (2001).
24. Y. Liang, S. Gan, S. A. Chambers, and E. I. Altman, Phys. Rev. B 63, 235402 (2001).
25. Y. Fukuma, H. Asada, M. Arifuku, and T. Koyanagi, Appl. Phys. Lett. 80, 1013 (2002).
26. H. Tang, K. Prasad, R. Sanjinès, P. E. Schmid, and F. Lévy, J. Appl. Phys. 75, 2042 (1994).
27. T. Dietl, H. Ohno, F. Matsukura, J. Cibert, and D. Ferrand, Science 287, 1019 (2000).
28. K. Ando cond-mat/0208010.
29. T. Kanki, H. Tanaka, and T. Kawai, Phys. Rev. B 64, 224418 (2001).