Measurement of Sb diffusion using shadow profiles created by a STM tip

Surface Science

Volumn 464, Issue 2-3, 2000, Pages 131-144

  Voigtländer, Bert ^a   Kästner, Martin ^a  

^a FORSCHUNGSZENTRUM JÜLICH   (Germany)

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ANTIMONY; EPITAXIAL GROWTH; FILM GROWTH; GERMANIUM; MOLECULAR BEAM EPITAXY; MONTE CARLO METHODS; NANOSTRUCTURED MATERIALS; NUCLEATION; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SEMICONDUCTING FILMS; SEMICONDUCTING SILICON;

SELF ASSEMBLY; SHADOW PROFILES;

DIFFUSION IN SOLIDS;

EID: 0038080682     PISSN: 00396028     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0039-6028(00)00654-3     Document Type: Article

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