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Volumn 67, Issue 7, 1996, Pages 2568-2572

High temperature scanning tunneling microscopy during molecular beam epitaxy

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EID: 0000258696     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1147215     Document Type: Article
Times cited : (30)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.