Conical x-ray crystal spectrometer for time integrated and time resolved measurements

Review of Scientific Instruments

Volumn 74, Issue 4, 2003, Pages 2369-2374

  Andiel, U ^a   Eidmann, K ^a   Pisani, F ^a   Witte, K ^a   Uschmann, I ^b   Wehrhan, O ^b   Forster E ^b  

^a MAX PLANCK INSTITUT FÜR QUANTENOPTIK   (Germany)

^b FRIEDRICH SCHILLER UNIVERSITY JENA   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

LASER PRODUCED PLASMAS; STREAK CAMERAS; X RAY CRYSTALLOGRAPHY;

TIME RESOLVED MEASUREMENTS;

X RAY SPECTROMETERS;

EID: 0038003857     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1556953     Document Type: Article

References (32)

1. M. H. Key, C. L. S. Lewis, J. G. Lunney, A. Moore, and J. M. Ward, Phys. Rev. Lett. 44, 1669 (1980).
2. B. A. Hammel, C. J. Keane, T. R. Dittrich, D. R. Kania, J. D. Kilkenny, R. W. Lee, and W. K. Levedahl, J. Quant. Spectrosc. Radiat. Transf. 51, 113 (1994).
3. N. C. Woolsey, B. A. Hammel, C. J. Keane, C. A. Back, J. C. Moreno, J. K. Nash, A. Calisti, C. Mosse, L. Godbert, R. Stamm, B. Talin, C. F. Hooper, A. Asfaw, L. S. Klein, and R. W. Lee, J. Quant. Spectrosc. Radiat. Transf. 58, 975 (1997).
4. C. Rose-Petruck, R. Jimenez, T. Guo, A. Cavalleri, C. W. Siders, F. Raksi, J. A. Squier, B. C. Walker, K. R. Wilson, and C. P. J. Barty, Nature (London) 398, 310 (1999).
5. C. W. Siders, A. Cavalleri, K. Sokolowski-Tinten, C. Toth, T. Guo, M. Kammler, M. Horn von Hoegen, K. R. Wilson, D. von der Linde, and C. P. J. Barty, Science 286, 1340 (1999).
6. A. Rousse, C. Rischel, S. Fourmaux, I. Uschmann, S. Sebban, G. Grillon, P. Balcou, E. Förster, J. P. Geindre, P. Audebert, J. C. Gauthier, and D. Hulin, Nature (London) 410, 65 (2001).
7. K. Sokolowski-Tinten, C. Blome, C. Dietrich, A. Tarasevitch, M. Horn von Hoegen, D. von der Linde, A. Cavalleri, J. Squier, and M. Kammler, Phys. Rev. Lett. 87, 225701 (2001).
8. T. Feurer, A. Morak, I. Uschmann, C. Ziener, H. Schwörer, C. Reich, P. Gibbon. E. Förster, and R. Sauerbrey, Phys. Rev. E 65, 016412 (2001).
9. L. v. Hámos, Kurze Originalmitteilungen, Naturwissenschaften 20, 705 (1932).
10. L. v. Hámos, Ann. Phys. 17, 716 (1933).
11. A. Hauer, J. D. Kilkenny, and O. L. Landen, Rev. Sci. Instrum. 56, 803 (1985).
12. F. Pisani, M. Koenig, D. Batani, T. Hall, D. Desenne, J. Bruneau, and C. Reverdin, Rev. Sci. Instrum. 70, 3314 (1999).
13. T. A. Hall, J. Phys. E 17, 110 (1984).
14. R. S. Marjoribanks, M. C. Richardson, P. R. Audebert, D. K. Bradley, G. G. Gregory, and P. A. Jaanimagi, Proc. SPIE 831, 185 (1987).
15. D. W. Phillion and B. A. Hammel, Rev. Sci. Instrum. 61, 3738 (1990).
16. J. C. Kieffer, M. Chaker, J. P. Matte, H. Pépin, C. Y. Côté, Y. Beaudoin, T. W. Johnson, C. Y. Chien, S. Coe, G. Mourou, and O. Peyrusse, Phys. Fluids B 5, 2676 (1993).
17. J. C. Kieffer, M. Chaker, C. Y. Côté, Y. Beaudoin, H. Pépin, C. Y. Chiem, S. Coe, and G. Mourou, Appl. Opt. 32, 4247 (1993).
18. J. C. Kieffer, Z. Jiang, A. Ikhlef, and C. Y. Côté, J. Opt. Soc. Am. B 13, 132 (1996).
19. P. Gallant, Z. Jiang, C. Y; Chien, P. Forget, F. Dorchies, J. C. Kieffer, H. Pépin, O. Peyrusse, G. Mourou, and A. Krol, J. Quant. Spectrosc. Radiat. Transf. 65, 243 (2000).
20. U. Andiel, Dissertation, Technische Universität München (2001), also available as report MPQ270, Max Planck Institut fü Quantenoptik, Garching, Germany (2001).
21. U. Andiel, K. Eidmann, and K. Witte, Proc. SPIE 4424, 496 (2000).
22. C. Y. Côté, J. C. Kieffer, P. Gallant, J. C. Rebuffle, C. Goulmy, A. Maksimchuk, G. Mourou, D. Kaplan, and M. Bouvier, Proc. SPIE 2869, 956 (1997).
23. G. Hoelzer, O. Wehrhan, and E. Förster, Cryst. Res. Technol. 33, 555 (1998).
24. A. Saemann, K. Eidmann, I. E. Golovkin, R. C. Mancini, E. Andersson, E. Förster, and K. Witte, Phys. Rev. Lett. 82, 4843 (1999).
25. O. Wehrhan, I. Uschmann, and E. Förster, Laborbericht (1999).
26. A. E. Sandström, Handbuch der Physik (Springer, Berlin, 1957), Vol. 30, p. 164.
27. B. L. Henke and P. A. Jaanimagi, Rev. Sci. Instrum. 56, 1537 (1985).
28. W. Knox and G. Mourou, Opt. Commun. 37, 203 (1981).
29. T. Oksenhendler, D. Kaplan, U. Andiel, K. Eidmann, and K. Witte, Proceedings of the Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO), 7-12 May 2000, San Francisco, paper CThM44.
30. B. L. Henke, J. P. Knauer, and K. Premaratne, J. Appl. Phys. 52, 1509 (1980).
31. F. Pisani et al. (to be published).
32. U. Andiel, K. Eidmann, K. Witte, I. Uschmann, and E. Förster, Appl. Phys. Lett. 80, 198 (2002).