Characterization of flat and bent crystals for X-ray spectroscopy and imaging

Crystal Research and Technology

Volumn 33, Issue 4, 1998, Pages 555-567

  Holzer G ^a   Wehrhan, O ^a   Forster E ^a  

^a FRIEDRICH SCHILLER UNIVERSITY JENA   (Germany)

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COMPUTER SIMULATION; COMPUTER SOFTWARE; ELECTROMAGNETIC WAVE REFLECTION; IMAGING TECHNIQUES; X RAY SPECTROSCOPY;

SOFTWARE PACKAGE DIXI;

X RAY CRYSTALLOGRAPHY;

EID: 84862038210     PISSN: 02321300     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/(SICI)1521-4079(1998)33:4<555::AID-CRAT555>3.0.CO;2-Q     Document Type: Article

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