-
1
-
-
0033639561
-
-
Kittl, J. A., Shiau, W. T., Hong, Q. Z., & Miles, D. (2000). Microelectron. Eng.. 50 87.
-
(2000)
Microelectron. Eng.
, vol.50
, pp. 87
-
-
Kittl, J.A.1
Shiau, W.T.2
Hong, Q.Z.3
Miles, D.4
-
3
-
-
0032476250
-
-
Kittl, J. A., Hong, Q. Z., Yang, H., Yu, N., Samavedam, S. B., & Gribelyuk, M. A. (1998). Thin Solid Films. 332 404.
-
(1998)
Thin Solid Films
, vol.332
, pp. 404
-
-
Kittl, J.A.1
Hong, Q.Z.2
Yang, H.3
Yu, N.4
Samavedam, S.B.5
Gribelyuk, M.A.6
-
5
-
-
0028734072
-
-
Ma, Z., Allen, L. H., & Allman, D. D. J. (1994). Thin Solid Films. 253 451.
-
(1994)
Thin Solid Films
, vol.253
, pp. 451
-
-
Ma, Z.1
Allen, L.H.2
Allman, D.D.J.3
-
6
-
-
0028498717
-
-
Pelleg, J., Zalkind, S., Zevin, L., & Ditchek, B. M. (1994). Thin Solid Films. 249 126.
-
(1994)
Thin Solid Films
, vol.249
, pp. 126
-
-
Pelleg, J.1
Zalkind, S.2
Zevin, L.3
Ditchek, B.M.4
-
7
-
-
0033677269
-
-
Harper, J. M. E., Cabral, C., & Lavoie, C. (2000). Annu. Rev. Mater. Sci.. 30 523.
-
(2000)
Annu. Rev. Mater. Sci.
, vol.30
, pp. 523
-
-
Harper, J.M.E.1
Cabral, C.2
Lavoie, C.3
-
8
-
-
0026105523
-
-
Lasky, J. B., Nakos, J. S., Cain, O. J., & Geiss, P. J. (1991). IEEE Trans. Electron Dev.. 38 262.
-
(1991)
IEEE Trans. Electron Dev.
, vol.38
, pp. 262
-
-
Lasky, J.B.1
Nakos, J.S.2
Cain, O.J.3
Geiss, P.J.4
-
9
-
-
0029483743
-
-
Wang, Q. F., Maex, K., Kubicek, S., Jonckheere, R., Kerkwijk, B., Verbeek, R., Biesemans, S., & De Meyer, K. (1995). VLSI Tech. Digest 1995. 17.
-
(1995)
VLSI Tech. Digest 1995
, pp. 17
-
-
Wang, Q.F.1
Maex, K.2
Kubicek, S.3
Jonckheere, R.4
Kerkwijk, B.5
Verbeek, R.6
Biesemans, S.7
De Meyer, K.8
-
10
-
-
0027889412
-
-
Yamazaki, T., Goto, K., Fukano, T., Nara, Y., Sugii, T., & Ito, T. (1993). IEDM Tech. Digest 1993. 906.
-
(1993)
IEDM Tech. Digest 1993
, pp. 906
-
-
Yamazaki, T.1
Goto, K.2
Fukano, T.3
Nara, Y.4
Sugii, T.5
Ito, T.6
-
11
-
-
0006090730
-
-
Tian, Z. Q., Gao, J. S., Li, X. Q., Ren, B., Huang, Q. J., Cai, W. B., Liu, F. M., & Mao, B. W. (1998). J. Raman Spectrosc.. 29 703.
-
(1998)
J. Raman Spectrosc.
, vol.29
, pp. 703
-
-
Tian, Z.Q.1
Gao, J.S.2
Li, X.Q.3
Ren, B.4
Huang, Q.J.5
Cai, W.B.6
Liu, F.M.7
Mao, B.W.8
-
12
-
-
0034159556
-
-
Lee, P. S., Mangelinck, D., Pey, K. L., Shen, Z. X., Ding, J., Osipowicz, T., & See, A. (2000). Electrochem. Solid-State Lett.. 3 153.
-
(2000)
Electrochem. Solid-State Lett.
, vol.3
, pp. 153
-
-
Lee, P.S.1
Mangelinck, D.2
Pey, K.L.3
Shen, Z.X.4
Ding, J.5
Osipowicz, T.6
See, A.7
-
13
-
-
0034225160
-
-
Zhao, J., Ballast, L. K., Hossain, T. Z., Trostel, R. E., & Bridgman, W. C. (2000). J. Vac. Sci. Technol. A. 18 1690.
-
(2000)
J. Vac. Sci. Technol. A
, vol.18
, pp. 1690
-
-
Zhao, J.1
Ballast, L.K.2
Hossain, T.Z.3
Trostel, R.E.4
Bridgman, W.C.5
-
14
-
-
0000957289
-
-
Guenin, G., Ignat, M., & Thomas, O. (1990). J. Appl. Phys.. 68 6515.
-
(1990)
J. Appl. Phys.
, vol.68
, pp. 6515
-
-
Guenin, G.1
Ignat, M.2
Thomas, O.3
-
15
-
-
0028516755
-
-
Perez-Rodriguez, A., Roca, E., Jawhari, T., Morante, J. R., & Schreutelkamp, R. J. (1994). Thin Solid Films. 251 45.
-
(1994)
Thin Solid Films
, vol.251
, pp. 45
-
-
Perez-Rodriguez, A.1
Roca, E.2
Jawhari, T.3
Morante, J.R.4
Schreutelkamp, R.J.5
-
16
-
-
0026869463
-
-
Mahmood, F., Ahmed, H., Jeynes, C., & Gillin, W. P. (1992). Appl. Surf. Sci.. 59 55.
-
(1992)
Appl. Surf. Sci.
, vol.59
, pp. 55
-
-
Mahmood, F.1
Ahmed, H.2
Jeynes, C.3
Gillin, W.P.4
-
18
-
-
0012863746
-
-
submitted
-
F.M. Liu, B. Ren, Z.Q. Tian, J.H. Ye, A. See, L. Chan, J. Appl. Phys., submitted
-
J. Appl. Phys.
-
-
Liu, F.M.1
Ren, B.2
Tian, Z.Q.3
Ye, J.H.4
See, A.5
Chan, L.6
-
19
-
-
84986860250
-
-
Sharonov, S., Nabiev, I., Chourpa, I., Feofanov, A., Valisa, P., & Manfait, M. (1994). J. Raman Spectrosc.. 25 699.
-
(1994)
J. Raman Spectrosc.
, vol.25
, pp. 699
-
-
Sharonov, S.1
Nabiev, I.2
Chourpa, I.3
Feofanov, A.4
Valisa, P.5
Manfait, M.6
-
21
-
-
0000795168
-
-
Rhee, H. S., Ahn, B. T., & Sohn, D. K. (1999). J. Appl. Phys.. 86 3452.
-
(1999)
J. Appl. Phys.
, vol.86
, pp. 3452
-
-
Rhee, H.S.1
Ahn, B.T.2
Sohn, D.K.3
|