-
4
-
-
0000848295
-
-
A.-P. Li, F. Müller, A. Birner, K. Nielsch, and U. Gösele, J. Appl. Phys. 84, 6023 (1998).
-
(1998)
J. Appl. Phys.
, vol.84
, pp. 6023
-
-
Li, A.-P.1
Müller, F.2
Birner, A.3
Nielsch, K.4
Gösele, U.5
-
5
-
-
0032207198
-
-
H. Masuda, K. Yada, and A. Osaka, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 37, L1340 (1998).
-
(1998)
Jpn. J. Appl. Phys., Part 2
, vol.37
-
-
Masuda, H.1
Yada, K.2
Osaka, A.3
-
6
-
-
0347372922
-
-
K. Nielsch, J. Choi, K. Schwirm, R. B. Wehrspohn, and U. Gösele, Nano Lett. 2, 677 (2002).
-
(2002)
Nano Lett.
, vol.2
, pp. 677
-
-
Nielsch, K.1
Choi, J.2
Schwirm, K.3
Wehrspohn, R.B.4
Gösele, U.5
-
7
-
-
0000065109
-
-
edited by K. R. Hebert, R. S. Lillard, and B. R. Mac Dougall, PV-2000-4 (Electrochemical Society, Pennington, NJ)
-
R. B. Wehrspohn, A. P. Li, K. Nielsch, F. Müller, W. Erfurth, and U. Gösele, in Oxide Films, edited by K. R. Hebert, R. S. Lillard, and B. R. Mac Dougall, PV-2000-4 (Electrochemical Society, Pennington, NJ, 2000), p. 271.
-
(2000)
Oxide Films
, pp. 271
-
-
Wehrspohn, R.B.1
Li, A.P.2
Nielsch, K.3
Müller, F.4
Erfurth, W.5
Gösele, U.6
-
8
-
-
0033336338
-
-
H. Masuda, M. Ohya, H. Asoh, M. Nakao, M. Nohtomi, and T. Tamamura, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 38, L1403 (1999).
-
(1999)
Jpn. J. Appl. Phys., Part 2
, vol.38
-
-
Masuda, H.1
Ohya, M.2
Asoh, H.3
Nakao, M.4
Nohtomi, M.5
Tamamura, T.6
-
9
-
-
0039922980
-
-
K. Nielsch, R. B. Wehrspohn, J. Barthel, J. Kirschner, U. Gösele, S. F. Fischer, and H. Kronmüller, Appl. Phys. Lett. 79, 1360 (2001).
-
(2001)
Appl. Phys. Lett.
, vol.79
, pp. 1360
-
-
Nielsch, K.1
Wehrspohn, R.B.2
Barthel, J.3
Kirschner, J.4
Gösele, U.5
Fischer, S.F.6
Kronmüller, H.7
-
10
-
-
0000684647
-
-
H. Masuda, H. Yamada, M. Satoh, H. Asoh, M. Nakao, and T. Tamamura, Appl. Phys. Lett. 71, 2770 (1997).
-
(1997)
Appl. Phys. Lett.
, vol.71
, pp. 2770
-
-
Masuda, H.1
Yamada, H.2
Satoh, M.3
Asoh, H.4
Nakao, M.5
Tamamura, T.6
-
12
-
-
0000974870
-
-
H. Masuda, M. Yotsuya, M. Asano, K. Nishio, M. Nakao, A. Yokoo, and T. Tamamura, Appl. Phys. Lett. 78, 826 (2001).
-
(2001)
Appl. Phys. Lett.
, vol.78
, pp. 826
-
-
Masuda, H.1
Yotsuya, M.2
Asano, M.3
Nishio, K.4
Nakao, M.5
Yokoo, A.6
Tamamura, T.7
-
13
-
-
0035899917
-
-
I. Mikulskas, S. Juodkazis, R. Tomašiūnas, and J. G. Dumas, Adv. Mater. 13, 1574 (2001).
-
(2001)
Adv. Mater.
, vol.13
, pp. 1574
-
-
Mikulskas, I.1
Juodkazis, S.2
Tomašiunas, R.3
Dumas, J.G.4
-
16
-
-
0037529886
-
-
www.p-o-weber.de
-
-
-
-
17
-
-
0000168308
-
-
H. Asoh, K. Nishio, M. Nakao, T. Tamamura, and H. Masuda, J. Electrochem. Soc. 148, B152 (2001).
-
(2001)
J. Electrochem. Soc.
, vol.148
-
-
Asoh, H.1
Nishio, K.2
Nakao, M.3
Tamamura, T.4
Masuda, H.5
-
18
-
-
0037867548
-
-
Germany Patent Application No, DE10207952.8 (2002)
-
M. Alexe, J. Choi, U. Gösele, K. Nielsch, M. Reiche, and R. B. Wehrspohn, Germany Patent Application No, DE10207952.8 (2002).
-
-
-
Alexe, M.1
Choi, J.2
Gösele, U.3
Nielsch, K.4
Reiche, M.5
Wehrspohn, R.B.6
-
19
-
-
0035272696
-
-
H. Asoh, K. Nishio, M. Nakao, A. Yokoo, T. Tamamura, and H. Masuda, J. Vac. Sci, Technol. B 19, 569 (2001).
-
(2001)
J. Vac. Sci, Technol. B
, vol.19
, pp. 569
-
-
Asoh, H.1
Nishio, K.2
Nakao, M.3
Yokoo, A.4
Tamamura, T.5
Masuda, H.6
|