X-ray absorption studies of atomic environments in semiconductor nanostructures

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

Volumn 199, Issue , 2003, Pages 169-173

  Boscherini, F ^a  

^a UNIVERSITY OF BOLOGNA   (Italy)

Author keywords

Quantum dots; Semiconductors; Strain; X ray absorption spectroscopy

Indexed keywords

ELASTICITY; SEMICONDUCTOR MATERIALS; SEMICONDUCTOR QUANTUM DOTS; SILICON COMPOUNDS; STRAIN; X RAY ANALYSIS;

SEMICONDUCTOR NANOSTRUCTURES;

NANOSTRUCTURED MATERIALS;

EID: 0037240418     PISSN: 0168583X     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0168-583X(02)01560-4     Document Type: Conference Paper

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