Phase transformations in pulsed laser deposited nanocrystalline tin oxide thin films

Chemistry of Materials

Volumn 15, Issue 2, 2003, Pages 564-567

  Fan, Haiyan ^a   Reid, Scott A ^a  

^a Marquette University   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

TIN;

ANALYTIC METHOD; ARTICLE; CRYSTALLIZATION; FILM; MASS SPECTROMETRY; NANOPARTICLE; PARTICLE SIZE; PHASE TRANSITION; SYNTHESIS; THICKNESS; X RAY DIFFRACTION;

EID: 0037239084     PISSN: 08974756     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/cm0208509     Document Type: Article

References (37)

1. Madou, M. J.; Morrison, S. R. Chemical Sensing with Solid State Devices; Academic: Boston, 1989.
2. Iida, H.; Shiba, N.; Mishuku, T.; Karasawa, H.; Ito, A.; Yamanaka, M.; Haiyashi, Y. IEEE Electron Device Lett. 1983, EDL-4, 157.
3. Takahata, K. In Chemical Sensor Technology; Seiyama, T., Ed.; Elsevier: Amsterdam, 1988; p 39.
4. D'Almeida, K.; Bernede, J. C.; Marsillac, S.; Godoy, A.; Diaz, F. R. Synth. Met. 2001, 122, 127.
5. Chen, J. S.; Li, H. L.; Huang, J. L. Appl. Surf. Sci. 2002, 187, 305.
6. Rajaram, P.; Goswami, Y. C.; Rajagopalan, S.; Gupta, V. K. Mater. Lett. 2002, 54, 158.
7. Shoyama, M.; Hashimoto, N. Chem. Sens. 2001, 17, 10.
8. Shatokhin, A. N.; Putilin, F. N.; Safonova, O. V.; Rumyantseva, M. N.; Gas'kov, A. M. Inorg. Mater. 2002, 38, 374.
9. Dominguez, J. E.; Pan, X. Q.; Fu, L.; Van Rompay, P. A.; Zhang, Z.; Nees, J. A.; Pronko, P. P. J. Appl. Phys. 2002, 91, 1060.
10. Hu, W. S.; Lui, Z. G.; Wu, Z. C.; Feng, D. Mater. Lett. 1996, 28, 369.
11. Vispute, R. D.; Godbole, V. P.; Chaudhari, S. M.; Kanetkar, S. M.; Ogale, S. B. J. Mater. Res. 1988, 3, 1180.
12. Godbole, V. P.; Vispute, R. D.; Chaudhari, S. M.; Kanetkar, S. M.; Ogale, S. B. J. Mater. Res. 1990, 5, 372.
13. Lal, R.; Grover, R.; Vispute, R. D.; Viswanathan, R.; Godbole, V. P.; Ogale, S. B. Thin Solid Films 1991, 206, 88.
14. Dai, C. M.; Su, C. S.; Chuu, D. S. Appl. Phys. Lett. 1990, 57, 1879.
15. Morosova, N. V.; Gas'kov, A. M.; Kuznetsova, T. A.; Putilin, F. N.; Rumyantseva, M. N.; Shatnov, V. I. Inorg. Mater. 1996, 32, 292.
16. Hu, W. S.; Liu, Z. G.; Zheng, J. G.; Hu, X. B.; Guo, X. L.; Gopel, W. J. Mater. Sci.: Mater. Electron. 1997, 8, 155.
17. Lamelas, F. J.; Reid, S. A. Phys. Rev. B: Condens. Matter Mater. Phys. 1999, 60, 9347.
18. Dominguez, J. E.; Fu, L.; Pan, X. Q. Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 614.
19. Pan, X. Q.; Fu, L.; Dominguez, J. E. J. Appl. Phys. 2001, 89, 6056.
20. Haines, J.; Léger, J. M. Phys. Rev. B: Condens., Matter Mater. Phys. 1997, 55, 11114.
21. Kaplan, L.; Ben-Shalom, A.; Boxman, R. L.; Goldsmith, S.; Rosenberg, U.; Nathan, M. Thin Solid Films 1994, 253, 1.
22. Shek, C. H.; Lai, J. K. L.; Lin, G. M.; Zheng, Y. F.; Liu, W. H. J. Phys. Chem. Solids 1997, 58, 13.
23. Lu, B.; Wang, C.; Zhang, Y. Appl. Phys. Lett. 1997, 70, 717.
24. Manifacier, J. C.; Gasiot, J.; Fillard, J. P. J. Phys. E 1976, 9, 1002.
25. Ohlidal, I.; Franta, D.; Ohlidal, M.; Navratil, K. Appl. Opt. 2001, 40, 5711.
26. Reid, S. A.; Ho, W.; Lamelas, F. J. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 5324.
27. Fan, H.; Ho, W.; Reid, S. A., unpublished results.
28. Muranaka, S.; Yoshichika, B.; Takada, T. Nippon Kagaku Kaishi 1987, 11, 1886.
29. Prodan, A.; Vene, V.; Sevsek, F.; Hudomalj, M. Thin Solid Films 1987, 147, 313.
30. Okaji, M. Int. J. Thermophys. 1988, 9, 1101.
31. Amatuni, A. N.; Shevchenko, E. B. Izmer. Tekh. 1966, 10, 17.
32. Yim, W. M.; Paff, R. J. J. Appl. Phys. 1974, 45, 1456.
33. Geurts, J.; Rau, S.; Richter, W.; Schmitte, F. J. Thin Solid Films 1984, 121, 217.
34. Sangaletti, L.; Depero, L.; Allieri, B.; Pioselli, F.; Comini, E.; Sberveglieri, G.; Zocchi, M. J. Mater. Res. 1998, 13, 2457.
35. Gullity, B. D. Elements of X-ray diffraction, 2nd ed.; Addison-Wesley: Torrance, 1978.
36. Song, S.-K. Phys. Rev. B: Condens. Matter Mater. Phys. 1999, 60, 11137.
37. Bender, M.; Katsarakis, N.; Gagaoudakis, E.; Hourdakis, E.; Douloufakis, E.; Cimalla, V.; Kiriakidis, G. J. Appl. Phys. 2001, 90, 5382.