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Volumn 294, Issue 5542, 2001, Pages 567-571

Charge migration in DNA: Ion-gated transport

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CHARGE TRANSFER; COMPUTER SIMULATION; HOLE TRAPS; MOLECULAR DYNAMICS; OLIGOMERS; POSITIVE IONS; ULTRAVIOLET RADIATION;

EID: 0035913970     PISSN: 00368075     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1126/science.1062864     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.