Study of microstructure on a mesoscale by ACOM

Crystal Research and Technology

Volumn 35, Issue 6, 2000, Pages 851-862

  Schwarzer, Robert A ^a   Huot, Agnès ^a  

^a Physikalisches Institut der TU   (Germany)

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CRYSTAL ORIENTATION; DATABASE SYSTEMS; ELECTROMIGRATION; ELECTRON DIFFRACTION; GRAIN BOUNDARIES; MATHEMATICAL TRANSFORMATIONS; MORPHOLOGY; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY; TEXTURES;

AUTOMATED CRYSTAL ORIENTATION MEASUREMENT; BACKSCATTER KIKUCHI PATTERNS; CRYSTAL ORIENTATION MAPPING; ELECTRON BACKSCATTER DIFFRACTION; MISORIENTATION DENSITY FUNCTION; ORIENTATION DENSITY FUNCTION; RADON TRANSFORM; STEREOLOGY;

CRYSTAL MICROSTRUCTURE;

EID: 0033696750     PISSN: 02321300     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/1521-4079(200007)35:6/7<851::AID-CRAT851>3.0.CO;2-N     Document Type: Article

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