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Volumn 11, Issue 6, 1999, Pages 349-358

Ultralow-stress silicon-rich nitride films for microstructure fabrication

Author keywords

Low stress membrane; MEMS materials; Silicon rich nitride

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EID: 0033474323     PISSN: 09144935     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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References (10)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.