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Volumn 35, Issue SUPPL. 4, 1999, Pages

Ultra-thin gate oxide grown on nitrogen implanted silicon

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EID: 0033262263     PISSN: 03744884     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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References (9)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.