Role of the thermal oxide in GaAs-based photonic bandgap waveguide microcavities

Advanced Materials

Volumn 11, Issue 6, 1999, Pages 501-505

  Lim, Kuo Yi ^b   Ripin, Daniel J ^a   Petrich, Gale S ^b   Villeneuve, Pierre R ^a   Fan, Shanhui ^a   Joannopoulos, J D ^a   Ippen, Erich P ^a,b   Kolodziejski, Leslie A ^b  

^a USA   (United States)

^b NONE   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ENERGY GAP; ETCHING; LIGHT TRANSMISSION; REFRACTIVE INDEX; SEMICONDUCTING GALLIUM ARSENIDE; SEMICONDUCTOR DEVICES; THERMOOXIDATION;

OPTICAL MICROCAVITIES;

OPTICAL WAVEGUIDES;

EID: 0032651922     PISSN: 09359648     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/(SICI)1521-4095(199904)11:6<501::AID-ADMA501>3.0.CO;2-H     Document Type: Article

References (11)

1. P. R. Villeneuve, S. Fan, J. D. Joannopoulos, K.-Y. Lim, G. S. Petrich, L. A. Kolodziejski, R. Reif, Appl. Phys. Lett. 1995, 67, 167.
2. J. S. Foresi, P. R. Villeneuve, J. Ferrera, E. R. Thoen, G. Steinmeyer, S. Fan, J. D. Joannopoulos, L. C. Kimerling, H. I. Smith, E. P. Ippen, Nature 1997, 390, 143.
3. K.-Y. Lim, D. J. Ripin, G. S. Petrich, L. A. Kolodziejski, E. P. Ippen, M. Mondol, H. I. Smith, P. R. Villeneuve, S. Fan, J. D. Joannopoulos, J. Vac. Sci. Technol. B, in press.
4. W. T. Tsang, Appl. Phys. Lett. 1978, 33, 426.
5. J. M. Dallesasse, N. Holonyak, Jr., A. R. Sugg, T. A. Richard, N. El-Zein, Appl. Phys. Lett. 1990, 57, 2844.
6. G. M. Yang, M. H. MacDougal, P. D. Dapkus, Electron. Lett. 1995, 31, 886.
7. K. D. Choquette, R. P. Schneider, K. L. Lear, K. M. Geib, Electron. Lett. 1994, 30, 2043.
8. K. L. Lear, K. D. Choquette, R. P. Schneider, S. P. Kilcoyne, K. M. Geib, Electron. Lett. 1995, 31, 208.
9. K. D. Choquette, K. M. Geib, C. I. H. Ashby, B. O. Twesten, H. Q. Hou, D. M. Follstaedt, B. E. Hammons, D. Mathes, R. Hull, IEEE J. Selected Top. Quantum Electron. 1997, 3, 916.
10. M. H. MacDougal, P. D. Dapkus, IEEE Photon. Technol. Lett. 1997, 9, 884.
11. F. A. Kish, S. J. Caracci, N. J. Holonyak, J. M. Dallesasse, K. C. Hsieh, M. J. Ries, S. C. Smith, R. D Burnham, Appl. Phys. Lett. 1991, 59, 1755.