Atomic force microscopic studies of oxide thin films on organic self-assembled monolayers

Journal of Materials Research

Volumn 14, Issue 6, 1999, Pages 2464-2475

  Niesen, T P ^a   De Guire, M R ^a   Bill, J ^a   Aldinger, F ^a   Ruhle M ^b   Fischer, A ^c   Jentoft, F C ^c   Schlogl R ^c  

^a UNIVERSITY OF STUTTGART   (Germany)

^b MAX PLANCK INSTITUTE FOR INTELLIGENT SYSTEMS   (Germany)

^c FRITZ HABER INSTITUT DER MAX PLANCK GESELLSCHAFT   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; FILM GROWTH; MORPHOLOGY; NANOSTRUCTURED MATERIALS; PARTICLES (PARTICULATE MATTER); SILICON; SURFACE ROUGHNESS; SURFACE TOPOGRAPHY; SURFACES; TITANIUM OXIDES; ZIRCONIA; ZIRCONIUM COMPOUNDS;

SCANNING ACOUSTIC MICROSCOPY; SELF ASSEMBLED MONOLAYERS; ZIRCONIUM SULFATE;

THIN FILMS;

EID: 0032628574     PISSN: 08842914     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1557/JMR.1999.0331     Document Type: Article

References (50)

1. H. Shin, R. J. Collins, M. R. De Guire, A. H. Heuer, and C. N. Sukenik, J. Mater. Res. 10, 692 (1995).
2. M. Agarwal, M. R. De Guire, and A. H. Heuer, J. Am. Ceram. Soc. 80, 2967 (1997).
3. S. Supothina and M. R. De Guire, unpublished results.
4. M. Agarwal, M. R. De Guire, and A. H. Heuer, Appl. Phys. Lett. 71, 891 (1997).
5. B. C. Bunker, P. C. Rieke, B. J. Tarasevich, A. A. Campbell, G. E. Fryxell, G. L. Graff, L. Song, J. Liu, J. W. Virden, and G. L. McVay, Science 264, 48 (1994).
6. P. C. Rieke, B. D. Marsh, L. L. Wood, B. J. Tarasevich, J. Liu, L. Song, and G. E. Fryxell, Langmuir 11, 318 (1995).
7. B. Baretzky, B. Reinsch, U. Täffner, G. Schneider, and M. Rühle, Z. Metallkd. 87, 332 (1996).
8. H. Yamamoto, K. Okamura, T. Oya, T. Kanashima, M. Okuyuma, and Y. Hamakawa, Appl. Surf. Sci. 113/114, 664 (1997).
9. M. Anast, Å. Jamting, J. M. Bell, and B. Ben-Nissan, Thin Solid Films 253, 303 (1994).
10. K. C. Grabar, K. R. Brown, C. D. Keating, S. J. Stranick, S-L. Tang, and M. J. Natan, Anal. Chern. 69, 471 (1997).
11. (a) R. Resch, T. Prohaska, G. Friedbacher, M. Grasserbauer, T. Kanniainen, S. Lindroos, M. Leskelä, L. Niinistö, and J. A. C. Broakaert, Fresenius J. Anal. Chem. 353, 772 (1995);
12. (b) T. Kanniainen, S. Lindroos, T. Prohaska, G. Friedbacher, M. Leskelä, M. Grasserbauer, and L. Niinistö, J. Mater. Chem. 5, 985 (1995);
13. (c) R. Resch, G. Friedbacher, M. Grasserbauer, T. Kanniainen, S. Lindroos, M. Leskelä, and L. Niinistö, Fresenius J. Anal. Chem. 358, 80 (1997);
14. (d) M. P. Valkonen, S. Lindroos, T. Kanniainen, M. Leskelä, R. Resch, G. Friedbacher, and M. Grasserbauer, J. Mater. Res. 13, 1688 (1998).
15. D. K. Schwartz, S. Steinberg, J. Israelachvili, and J. A. N. Zasadzinski, Phys. Rev. Lett. 69, 3354 (1992).
16. D. W. Britt and V. Hlady, J. Colloid Interface Sci. 178, 775 (1996).
17. M. Fujii, K. Sugisawa, K. Fukada, T. Kato, and T. Seimiya, Langmuir 11, 405 (1995).
18. K. Bierbaum, M. Grunze, A. A. Baski, L. F. Chi, W. Schrepp, and H. Fuchs, Langmuir 11, 2143 (1995).
19. C. Carraro, O. W. Yauw, M. M. Sung, and R. Maboudian, J. Phys. Chem. B 102, 4441 (1998).
20. M. Calistri-Yeh, E. J. Kramer, R. Sharma, W. Zhao, M. H. Rafailovich, J. Sokolov, and J. D. Brock, Langmuir 12, 2747 (1996).
21. V. V. Tsukruk and D. H. Reneker, Polymer 36, 1791 (1995).
22. X. Zhao and R. Kopelman, J. Phys. Chem. 100, 11014 (1996).
23. (a) J. T. Woodward, A. Ulman, and D. K. Schwartz, Langmuir 12, 3626 (1996);
24. (b) J. T. Woodward, I. Doudevski, H. D. Sikes, and D. K. Schwartz, J. Phys. Chem. B 101, 7535 (1997).
25. K. Tamada, M. Hara, H. Sasabe, and W. Knoll, Langmuir 13, 1558 (1997).
26. W. B. Caldwell, D. J. Campbell, K. Chen, B. R. Herr, C. A. Mirkin, A. Malik, M. K. Durbin, P. Dutta, and K. G. Huang, J. Am. Chem. Soc. 117, 6071 (1995).
27. R. Wang, T. Iyoda, L. Jiang, K. Hashimoto, and A. Fujishima, Chem. Lett., 1005 (1996).
28. H. Ohno, M. Motomatsu, W. Mizutani, and H. Tomumoto, Jpn. J, Appl. Phys. 34, 1381 (1995).
29. D. K. Schwartz, Curr. Op. Colloid Interface Sci. 3, 131 (1998).
30. I. Touzov and C. B. Gorman, J. Phys. Chem. B 101, 5263 (1997).
31. A. Lio, C. Morant, D. F. Ogletree, and M. Salmeron, J. Phys. Chem. B 101, 4767 (1997).
32. J. M. Doña and J. Herrero, J. Electrochem. Soc. 142, 764 (1995).
33. (a) C. Guillen, M. A. Martinez, A. Rodriguez, J. Herrero, and M. T. Gutierrez, Prog. Photovoltaics: Res. Appl. 4, 439 (1996);
34. (b) J. M. Doña and J. Herrero, J. Electrochem. Soc. 144, 4081 (1997).
35. M. L. Breen, J. T. Woodward, D. K. Schwarz, and A. W. Apblett, Chem. Mater. 10, 710 (1998).
36. (a) N. A. Kotov, I. Dekany, and J. H. Fendler, J. Phys. Chem. 99, 13065 (1995);
37. (b) J. H. Fendler, Chem. Mater. 8, 1616 (1996).
38. F. C. Meldrum, J. Flath, and W. Knoll, Langmuir 13, 2033 (1997).
39. D. Huang, Z-D. Xiao, J-H. Gu, N-P. Huang, and C-W. Yuan, Thin Solid Films 305, 110 (1997).
40. (a) N. Balachander and C. N. Sukenik, Tetrahedron Lett. 29, 5593 (1988);
41. (b) N. Balachander and C. N. Sukenik, Langmuir 6, 1621 (1990);
42. (c) R. J. Collins and C. N. Sukenik, Langmuir 11, 2322 (1995).
43. H. Shin, M. Agarwal, M. R. De Guire, and A. H. Heuer, Acta Mater. 46, 801 (1998).
44. Y. Liu, A. Wang, and R. Claus, J. Phys. Chem. B 101, 1385 (1997).
45. M. Hu, S. Schempp, and M. R. De Guire, unpublished results.
46. S. Supothina, Ph.D. Dissertation, Case Western Reserve University, January 1999.
47. Y. M. Chiang, L. E. Silverman, R. H. French, and R. M. Cannon, J. Am. Ceram. Soc. 77, 1143 (1994).
48. A. Fischer and F. C. Jentoft, unpublished results.
49. A. Fischer, F. C. Jentoft, G. Weinberg, R. Schlögl, T. P. Niesen, J. Bill, F. Aldinger, M. R. De Guire, and M. Rühle, unpublished results.
50. H. Shin, M. Agarwal, M. R. De Guire, and A. H. Heuer, J. Am. Ceram. Soc. 79, 1975 (1996).