Site-selective x-ray absorption fine structure analysis of an optically active center in Er-doped semiconductor thin film using x-ray-excited optical luminescence

Applied Physics Letters

Volumn 78, Issue 2, 2001, Pages 183-185

  Ishii, Masashi ^a   Tanaka, Yoshihito ^b   Ishikawa, Tetsuya ^b   Komuro, Shuji ^c   Morikawa, Takitaro ^c   Aoyagi, Yoshinobu ^d  

^a JAPAN SYNCHROTRON RADIATION RESEARCH INSTITUTE   (Japan)

^b RIKEN HARIMA INSTITUTE   (Japan)

^c TOYO UNIVERSITY   (Japan)

^d RIKEN   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0008675974     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1336546     Document Type: Article

References (21)

1. X. Zhao, S. Komuro, H. Isshiki, Y. Aoyagi, and T. Sugano, Appl. Phys. Lett. 74, 120 (1999).
2. S. Coffa, G. Franzo, F. Priolo, A. Polman, and R. Serna, Phys. Rev. B 49, 16313 (1994).
3. H. Ennen, J. Wagner, H. D. Muller, and R. S. Smith, J. Appl. Phys. 61, 4877 (1987).
4. K. Takahei and A. Taguchi, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 33, 709 (1994).
5. D. L. Adler, D. C. Jacobson, D. J. Eaglesham, M. A. Marcus, J. L. Benton, J. M. Poate, and P. H. Citrin, Appl. Phys. Lett. 61, 2181 (1992).
6. A. Terrasi, G. Franzo, S. Coffa, F. Priolo, F. D'Acapito, and S. Mabillo, Appl. Phys. Lett. 70, 1712 (1997).
7. M. Ishii, T. Ishikawa, T. Ueki, S. Komuro, T. Morikawa, Y. Aoyagi, and H. Oyanagi, J. Appl. Phys. 85, 4024 (1999).
8. M. Ishii, S. Komuro, T. Morikawa, Y. Aoyagi, T. Ishikawa, and T. Ueki, Jpn. J. Appl. Phys., Suppl. 38-1, 191 (1999).
9. M. Ishii, Y. Yoshino, K. Takarabe, and O. Shimomura, Appl. Phys. Lett. 74, 2672 (1999).
10. Y. Izumi and H. Nagamori, Bull. Chem. Soc. Jpn. 73, 2017 (2000).
11. J. Goulon, P. Tola, M. Lemonnier, and J. Dexpert-Ghys, Chem. Phys. 78, 347 (1983).
12. R. F. Pettifer and A. J. Bourdillon, J. Phys. C 20, 329 (1987).
13. G. Dalba, P. Fornasini, R. Grisenti, N. Daldosso, and F. Rocca. Appl. Phys. Lett. 74, 1454 (1999).
14. L. Soderholm, G. K. Liu, M. R. Antonio, and F. W. Lytle, J. Chem. Phys. 109, 6745 (1998).
15. H. Kitamura, Rev. Sci. Instrum. 66, 2007 (1995).
16. S. Komuro, S. Maruyama, T. Morikawa, X. Zao, H. Isshiki, and Y. Aoyagi, Appl. Phys. Lett. 69, 3896 (1996).
17. S. Komuro, T. Katsumata, T. Morikawa, X. Zao, H. Isshiki, and Y. Aoyagi, Appl. Phys. Lett. 74, 377 (1999).
18. I. Watanabe, H. Tanida, and S. Kawauchi, J. Am. Chem. Soc. 119, 12018 (1997).
19. H. Adachi, M. Tsukada, and C. Stoko, J. Phys. Soc. Jpn. 45, 875 (1978).
20. C. Suzuki, T. Mukoyama, J. Kawai, and H. Adachi, Phys. Rev. B 57, 9507 (1998).
21. P. W. Loeffen, R. F. Pettifer, S. Mullender, M. A. van Veenendaal, J. Rohler, and D. S. Sivia, Phys. Rev. B 54, 14877 (1996).