Single-monolayer in situ modulus measurements using a SAW device: Photocrosslinking of a diacetylenic thiol-based monolayer

Faraday Discussions

Volumn 107, Issue , 1997, Pages 247-258

  Ricco, Antonio J ^a   Staton, Alan W ^a   Crooks, Richard M ^b   Kim, Taisun ^c  

^a SANDIA NATIONAL LABORATORIES   (United States)

^b TEXAS A AND M UNIVERSITY   (United States)

^c Hallym University   (South Korea)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0006695718     PISSN: 13596640     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1039/a704232i     Document Type: Article

References (51)

1. N. D. Shinn, T. A. Michalske, S. J. Martin, A. J. Ricco, C. L. Daly, J. Kim, T. Kim, H. Yang and R. M. Crooks, Bull. Am. Phys. Soc., 1995, 40, 347.
2. S. J. Martin and A. J. Ricco, Sens. Actuat., A, 1990, 21-23, 712.
3. H. E. Hager, G. A. Escobar and P. D. Verge, J. Appl. Phys., 1986, 59, 3328.
4. D. S. Ballantine, R. M. White, S. J. Martin, A. J. Ricco, G. C. Frye, E. T. Zellers and H. Wohltjen, Acoustic Wave Sensors: Theory, Design and Physico-Chemical Applications, Academic Press, San Diego, 1997, Section 4.2.1.
5. H. Wohltjen and R. Dessy, Anal. Chem., 1979, 51, 1470.
6. J. A. Groetsch and R. E. Dessy, J. Appl. Polym. Sci., 1983, 28, 161.
7. D. S. Ballantine Jr. and H. Wohltjen, in Chemical Sensors and Microinstrumentation, ACS Symposium Series 403, ed. R. W. Murray, R. E. Dessy, W. R. Heineman, J. Janata and W. R. Seitz; American Chemical Society, Washington, DC, 1989, p. 222.
8. W. H. King Jr., Res./Dev., 1969, 20, 28.
9. Y. Okahata, G. En-na and H. Ebato, Anal. Chem., 1990, 62, 1431.
10. J. W. Grate, S. W. Wenzel and R. M. White, Anal. Chem., 1991, 63, 1552.
11. J. W. Grate, S. W. Wenzel and R. M. White, Anal. Chem., 1992, 64, 413.
12. J. W. Grate, S. J. Martin and R. M. White, Anal. Chem., 1993, 65, 987A.
13. A. J. Ricco and S. J. Martin, Sens. Actuat. B, 1993, 10, 123.
14. D. Johannsmann, K. Mathauer, G. Wegner and W. Knoll, Phys. Rev. B, 1992, 46, 7808.
15. T. W. Schneider, S. J. Martin and G. C. Frye, Ext. Abstr. 186th Mtg. Electrochem. Soc. Vol 94-2, The Electrochemical Society, Pennington, NJ, 1994, p. 1028.
16. S. J. Martin, G. C. Frye and S. D. Senturia, Anal. Chem., 1994, 66, 2201.
17. S. J. Martin and G. C. Frye, Appl. Phys. Let., 1990, 57, 1867.
18. G. C. Frye and S. J. Martin, in Proc. Symp. Chemical Sensors 11, ed. M. Butler, A. Ricco and N. Yamazoe; The Electrochemical Society, Pennington, NJ, 1993, p. 51.
19. G. C. Frye and S. J. Martin, 1993 IEEE Ultrason. Symp. Proc., IEEE, New York, 1993, p. 379.
20. D. S. Ballantine Jr., Anal. Chem , 1992, 64, 3069.
21. S. J. Martin and G. C. Frye, 1991 IEEE Ultrason. Symp. Proc., IEEE, New York, 1991, p. 393.
22. J. W. Grate, M. Klusty, R. A. McGill, M. H. Abraham, G. Whiting and J. Andonian-Haftvan, Anal. Chem., 1992, 64, 610.
23. L. J. Kepley, R. M. Crooks and A. J. Ricco, Anal. Chem., 1992, 64, 3191.
24. W. D. Bowers, R. L. Chuan and T. M. Duong, Ext. Abstr. 178th Mtg. Electrochem. Soc. Vol. 90-2, The Electrochemical Society, Pennington, NJ, 1990, p. 1116.
25. Ref. 4, ch. 6.
26. S. Datta, Surface Acoustic Wave Devices, Prentice-Hall, Englewood Cliffs, NJ, 1985.
27. A. J. Ricco, S. J. Martin and T. E. Zipperian, Sens. Actual., 1985, 8, 319.
28. J. D. Swalen, D. L. Allara, J. D. Andrade, E. A. Chandross, S. Garoff, J. Israelachvili, T. J. McCarthy, R. W. Murray and R. F. Pease, Langmuir, 1987, 3, 932.
29. R. C. Thomas, H. C. Yang, C. R. DiRubio, A. J. Ricco and R. M. Crooks, Langmuir, 1996, 12, 2239.
30. A. J. Ricco, R. M. Crooks and G. C. Osbourn, Acct. Chem. Res., accepted for publication.
31. R. C. Thomas, L. Sun, R. M. Crooks and A. J. Ricco, Langmuir, 1991, 7, 620.
32. L. Sun, R. C. Thomas, R. M. Crooks and A. J. Ricco, J. Am. Chem. Soc., 1991, 113, 8550.
33. M. Wells, D. L. Dermody, H. C. Yang, T. Kim, R. M. Crooks and A. J. Ricco, Langmuir, 1996, 12, 1989.
34. H. C. Yang, D. L. Dermody, C. Xu, A. J. Ricco and R. M. Crooks, Langmuir, 1996, 12, 726.
35. D. L. Dermody, R. M. Crooks and T. Kim, J. Am. Chem. Soc., 1996, 118, 11912.
36. J. Y. Huang and J. C. Hemminger, J. Am. Chem. Soc., 1993, 115, 3342.
37. M. J. Tarlov, D. R. F. Burgess and G. Gillen, J. Am. Chem. Soc., 1993, 115, 5305.
38. J. K. Schoer, C. B. Ross, R. M. Crooks, T. S. Corbitt and M. J. Hampden-Smith, Langmuir, 1994, 10, 615.
39. J. Li, K. Liang, N. Camillone, T. Leung and G. Scoles, J. Chem. Phys., 1995, 102, 5012.
40. G E. Poirier, M. J. Tarlov and H. E. Rushmeier, Langmuir, 1994, 10, 3383.
41. N. Camillone III, C. E. D. Chidsey, P. Eisenberger, P. Fenter, J. Li, K. S. Liang, G-Y. Liu and G. Scoles, J. Phys. Chem., 1993, 99, 744.
42. P. Fenter, P. Eisenberger and K. S. Liang, Phys. Rev. Lett., 1993, 70, 2447.
43. T. W. Schneider and D. A. Buttry, J. Am. Chem. Soc., 1993, 115, 12391.
44. T. Kim and R. M. Crooks, Tetrahedron Lett., 1994, 35, 9501.
45. T. Kim, R. M. Crooks, M. Tsen and L. Sun, J. Am. Chem. Soc., 1995, 117, 3963.
46. K. C. Chan, T. Kim, J. K. Schoer and R. M. Crooks, J. Am. Chem. Soc., 1995, 117, 5875.
47. T. Kim, K. C. Chan, R. M. Crooks, Q. Ye and L. Sun, Langmuir, 1996, 12, 6065.
48. T. Kim, K. C. Chan and R. M. Crooks, J. Am. Chem. Soc., 1997, 119, 189.
49. A. J. Ricco and S. J. Martin, Thin Solid Films, 1991, 206, 94.
50. N. D. Shinn, T. Kim, C. Daly, R. M. Crooks and T. A. Michalske, Langmuir, submitted for publication.
51. J. W. S. Hearle, Polymers and Their Properties, Vol. 1: Fundamentals of Structure and Mechanics, Halsted Press, New York, 1982.