Effects of grid bias on ZnO/α-Al2O3(0001) heteroepitaxy

Journal of Vacuum Science and Technology A: Vacuum, Surfaces and Films

Volumn 17, Issue 5, 1999, Pages 3003-3007

  Doh, S J ^a   Park, S I ^a   Cho, T S ^a   Je, Jung Ho ^a  

^a Pohang University of Science and Technology (POSTECH)   (South Korea)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0005767048     PISSN: 07342101     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1116/1.581973     Document Type: Article

References (19)

1. M. Kadota, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 36, 3076 (1997).
2. T. Mitsuyu, S. Ono, and K. Wasa, J. Appl. Phys. 51, 2464 (1980).
3. M. Kadota and M. Minakata, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 37, 1923 (1998).
4. C. M. Frans and Van De Pol, Ceram. Bull. 69, 1959 (1990).
5. E. L. Paradis and A. J. Shuskus, Thin Solid Films 38, 131 (1976).
6. M. Hiramatsu, K. Imaeda, N. Horio, and M. Nawata, J. Vac. Sci. Technol. A 16, 669 (1998).
7. N. Chubachi, Proc. IEEE 64, 772 (1976).
8. L. A. Coldren, Appl. Phys. Lett. 27, 6 (1975).
9. Z. K. Tang, G. K. L. Wong, P. Yu, M. Kawasaki, A. Ohtomo, H. Koinuma, and Y. Segawa, Appl. Phys. Lett. 72, 3270 (1998).
10. S. J. Chang, Y. K. Su, and Y. P. Shei, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 381 (1995).
11. J. J. Cuomo, R. J. Gambino, J. M. E. Harper, J. D. Kuptsis, and J. C. Webber, J. Vac. Sci. Technol. 15, 281 (1978).
12. K. Tominaga, S. Iwamura, Y. Shintani, and O. Tada, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 21, 688 (1982).
13. I. Petrov and V. Orlinov, Thin Solid Films 120, 55 (1984).
14. S. K. Shinha, M. K. Sanyal, S. K. Satija, C. F. Majkzak, D. A. Neumann, H. Homma, S. Szpala, A. Gibaud, and H. Morkoç, Physica B 198, 72 (1994).
15. J. H. Je and D. Y. Noh, J. Appl. Phys. 80, 2791 (1996).
16. S. K. Park and J. H. Je, Physica C 254, 167 (1995).
17. K. Tominaga, S. Iwamura, Y. Shintani, and O. Tada, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 21, 519 (1981).
18. K. Kato, S. Iizuka, G. Ganguly, T. Ikeda, A. Matsuda, and N. Sato, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 36, 4547 (1997).
19. J. Narayan, K. Dovidenko, A. K. Sharma, and S. Oktyabrsky, J. Appl. Phys. 84, 2587 (1998).