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Volumn 57, Issue 8, 1998, Pages 4756-4763

Implantation and damage under low-energy Si self-bombardment

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EID: 0001619367     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.57.4756     Document Type: Article
Times cited : (62)

References (27)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.