LiF/Al cathodes and the effect of LiF thickness on the device characteristics and built-in potential of polymer light-emitting diodes

Applied Physics Letters

Volumn 77, Issue 19, 2000, Pages 3096-3098

  Brown, T M ^a   Friend, R H ^a   Millard, I S ^b   Lacey, D J ^b   Burroughes, J H ^b   Cacialli, F ^a  

^a UNIVERSITY OF CAMBRIDGE   (United Kingdom)

^b Cambridge Display Technology Ltd   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0001511252     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1323741     Document Type: Article

References (25)

1. I. D. Parker, J. Appl. Phys. 75, 1656 (1994).
2. S. A. Carter, M. Angelopoulos, S. Karg, P. J. Brock, and J. C. Scott, Appl. Phys. Lett. 70, 2067 (1997).
3. J. S. Kim, M. Granström, R. H. Friend, N. Johansson, W. R. Salaneck, R. Daik, W. J. Feast, and F. Cacialli, J. Appl. Phys. 84, 6859 (1998).
4. T. M. Brown, J. S. Kim, R. H. Friend, F. Cacialli, R. Daik, and W. J. Feast, Appl. Phys. Lett. 75, 1679 (1999).
5. P. K. H. Ho, J. S. Kim, J. H. Burroughes, H. Becker, S. F. Y. Li, T. M. Brown, F. Cacialli, and R. H. Friend, Nature (London) 404, 481 (2000).
6. L. S. Hung, C. W. Tang, and M. G. Mason, Appl. Phys. Lett. 70, 152 (1997).
7. G. E. Jabbour, Y. Kawabe, S. E. Shaheen, J. F. Wang, M. M. Morrell, B. Kippelen, and N. Peyghambarian, Appl. Phys. Lett. 71, 1762 (1997).
8. T. Mori, H. Fujikawa, S. Tokito, and Y. Taga, Appl. Phys. Lett. 73, 2763 (1998).
9. M. Matsumura and Y. Jinde, Appl. Phys. Lett. 73, 2872 (1998).
10. U. Wolf and H. Bassler, Appl. Phys. Lett. 74, 3848 (1999).
11. S. E. Shaheen, G. E. Jabbour, M. M. Morrell, Y. Kawabe, B. Kippelen, N. Peyghambarian, M. F. Nabor, R. Schlaf, E. A. Mash, and N. R. Armstrong, J. Appl. Phys. 84, 2324 (1998).
12. R. Schlaf, B. A. Parkinson, P. A. Lee, K. W. Nebesny, G. Jabbour, B. Kippelen, N. Peyghambarian, and N. R. Armstrong, J. Appl. Phys. 84, 6729 (1998).
13. T. Mori, H. Fujikawa, S. Tokito, and Y. Taga, Appl. Phys. Lett. 73, 2763 (1998).
14. D. Yoshimura, T. Yokoyama, E. Ito, H. Ishii, Y. Ouchi, S. Hasegawa, and K. Seki, Synth. Met. 102, 1145 (1999).
15. I. H. Campbell, T. W. Hagler, D. L. Smith, and J. P. Ferraris, Phys. Rev. Lett. 76, 1900 (1996).
16. P. S. Davids, A. Saxena, and D. L. Smith, J. Appl. Phys. 78, 4244 (1995).
17. T. M. Brown, R. H. Friend, I. S. Millard, J. H. Burroughes, and F. Cacialli (unpublished).
18. G. Greczynski, M. Fahlman, and W. R. Salaneck, J. Chem. Phys. 113, 2407 (2000).
19. S. Kurtin, T. C. McGill, and C. A. Mead, Phys. Rev. Lett. 22, 1433 (1969).
20. J. Tersoff, Phys. Rev. B 32, 6968 (1985).
21. Q. T. Le, L. Yan, Y. G. Gao, M. G. Mason, D. J. Giesen, and C. W. Tang, J. Appl. Phys. 87, 375 (2000).
22. J. Yoon, J. J. Kim, T. W. Lee, and O. O. Park, Appl. Phys. Lett. 76, 2152 (2000).
23. H. C. Card and E. H. Rhoderick, J. Phys. D 4, 1589 (1971).
24. A. K. Jonscher, Thin Solid Films 1, 213 (1967).
25. N. W. Ashcroft and N. D. Mermin. Solid State Physics (Rinehart and Winston, New York, 1976), p. 553.