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Volumn 69, Issue 11, 1996, Pages 1577-1578

Ultrastable emission from a metal-oxide-semiconductor field-effect transistor-structured Si emitter tip

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EID: 0001480171     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.117035     Document Type: Article
Times cited : (46)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.