메뉴 건너뛰기




Volumn 86, Issue 1, 1999, Pages 683-691

Field-effect passivation of the SiO2-Si interface

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords


EID: 0001420554     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.370784     Document Type: Article
Times cited : (254)

References (34)
  • 27
    • 85034545862 scopus 로고    scopus 로고
    • unpublished
    • S. Rein et al. (unpublished).
    • Rein, S.1
  • 33
    • 24244433128 scopus 로고
    • Ph.D. thesis, University Utrecht
    • P. Lölgen, Ph.D. thesis, University Utrecht, 1995.
    • (1995)
    • Lölgen, P.1
  • 34
    • 3242843923 scopus 로고
    • Ph.D. thesis, University Freiburg
    • S. Glunz, Ph.D. thesis, University Freiburg, 1995.
    • (1995)
    • Glunz, S.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.