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Volumn 86, Issue 1, 1999, Pages 205-208

Charge trapping and defect segregation in quartz

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EID: 0001175762     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.370718     Document Type: Article
Times cited : (30)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.