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Volumn 79, Issue 24, 1997, Pages 4886-4889

Enhanced carrier lifetimes and suppression of midgap states in gaas at a magnetic metal interface

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EID: 0001154955     PISSN: 00319007     EISSN: 10797114     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevLett.79.4886     Document Type: Article
Times cited : (29)

References (33)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.