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Volumn 71, Issue 8, 2000, Pages 3050-3058

Direct imaging of highly charged ions in an electron beam ion trap

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EID: 0001003183     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1305521     Document Type: Review
Times cited : (33)

References (23)
  • 22
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    • note
    • Calculated using the relativistic Cowan code.


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.