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Volumn 60, Issue 3, 1999, Pages 2034-2038

Improved electron-beam ion-trap lifetime measurement of the [Formula Presented] level

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EID: 0001234534     PISSN: 10502947     EISSN: 10941622     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevA.60.2034     Document Type: Article
Times cited : (42)

References (20)
  • 20
    • 85037247955 scopus 로고    scopus 로고
    • H.T. Schmidt, Ph.D. thesis, University of Aarhus, 1994
    • H.T. Schmidt, Ph.D. thesis, University of Aarhus, 1994.


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.