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Volumn 85, Issue 8 II A, 1999, Pages 4565-4567

Origin and thermal stability of HK in FeTaN thin films

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EID: 0000976438     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.370409     Document Type: Article
Times cited : (16)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.