Local structures of III-V diluted magnetic semiconductors studied using extended x-ray-absorption fine structure

Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics

Volumn 58, Issue 3, 1998, Pages 1100-1102

  Shioda, R ^a   Ando, K ^a   Hayashi, T ^a   Tanaka, M ^a  

^a JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0000886688     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.58.1100     Document Type: Article

References (19)

1. J. K. Furdyna, J. Appl. Phys. 64, R29 (1988).
2. H. Munekata, H. Ohno, S. von Molnar, A. Segmuller, L. L. Chang, and L. Esaki, Phys. Rev. Lett. 63, 1849 (1989).
3. S. Huang, Z. H. Ming, Y. L. Soo, Y. H. Kao, M. Tanaka, and H. Munakata, J. Appl. Phys. 79, 1435 (1996).
4. J. D. Boeck, R. Oesterholt, A. V. Esch, H. Bender, C. Bruynseraede, C. Van Hoof, and G. Borghs, Appl. Phys. Lett. 68, 2744 (1996).
5. M. Tanaka, J. P. Harbison, M. C. Park, Y. S. Park, T. Shin, and G. M. Rothberg, Appl. Phys. Lett. 65, 1964 (1994).
6. H. Ohno, A. Shen, F. Matsukura, A. Oiwa, A. Endo, S. Katsumoto, and Y. Iye, Appl. Phys. Lett. 69, 363 (1996).
7. T. Hayashi, M. Tanaka, T. Nishinaga, and H. Shimada, J. Cryst. Growth 175/176, 1063 (1997).
8. T. Hayashi, M. Tanaka, T. Nishinaga, and H. Shimada, J. Appl. Phys. 81, 4865 (1997).
9. K. Ando, T. Hayashi, M. Tanaka, and A. Twardowski, J. Appl. Phys. (to be published).
10. Y. L. Soo, S. Huang, Z. H. Ming, H. Kao, H. Munekata, and L. L. Chang, Phys. Rev. B 53, 4905 (1996).
11. N. Happo, H. Sato, S. Hosokawa, Y. Ueda, and M. Taniguchi, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 32, 643 (1992).
12. K. Lawniczak-Jablonska, R. J. Iwanowski, Z. Golacki, A. Traverse, S. Pizzini, A. Fontaine, I. Winter, and J. Hormes, Phys. Rev. B 53, 1119 (1996).
13. S. Huang, Z. H. Ming, Y. L. Soo, H. Kao, M. Tanaka, and H. Munekata, J. Appl. Phys. 79, 1435 (1996).
14. A. Krol, Y. L. Soo, S. H. Ming, Y. H. Kao, H. Munekata, and L. L. Chang, Phys. Rev. B 47, 7184 (1993).
15. M. Nomura and A. Koyama, KEK Report No. 95-15 (1996).
16. J. J. Rehr and R. C. Albers, Phys. Rev. B 41, 8139 (1990).
17. J. J. Rehr, J. Mustre de Leon, S. I. Zabinsky, and R. C. Albers, J. Am. Chem. Soc. 113, 5135 (1991).
18. J. Mustre de Leon, J. J. Rehr, S. I. Zabinsky, and R. C. Albers, Phys. Rev. B 44, 4146 (1991).
19. M. Shirai, T. Ogawa, I. Kitagawa, and N. Suzuki, J. Magn. Magn. Mater. 177-181, 1383 (1998).