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Volumn 77, Issue 25, 2000, Pages 4121-4123

Critical layer thickness determination of GaN/InGaN/GaN double heterostructures

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EID: 0000810873     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1334361     Document Type: Article
Times cited : (76)

References (10)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.