Scanning Tunneling Microscopy Using Chemically Modified Tips

Analytical Chemistry

Volumn 70, Issue 2, 1998, Pages 255-259

  Ito, Takashi ^a   Buhlmann, Philippe ^a   Umezawa, Yoshio ^a  

^a UNIVERSITY OF TOKYO   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0000155841     PISSN: 00032700     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ac970498w     Document Type: Article

References (37)

1. Murray, R. W. In Electranalytical Chemistry; Bard, A. J., Ed.; Marcel Dekker: New York, 1984; Vol. 13, pp 191-368.
2. Murray, R. W.; Ewing, A. G.; Durst, R. A. Anal. Chem. 1987, 59, 379A-390A.
3. Wiesendanger, R. Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy: Methods and Applications; University Press: New York, 1994.
4. Coratger, R.; Sivel, V.; Ajustron, F.; Beauvillain, J. Micron 1994, 25, 371-385.
5. Ikai, A. Surf. Sci. Rep. 1996, 26, 261-332.
6. Sautet, P.; Dunphy, J. C.; Ogletree, D. F.; Joachim, C.; Salmeron, M. Surf. Sci. 1994, 315, 127-142.
7. Resh, J.; Sarkar, D.; Kulik, J.; Brueck, J.; Ignatiev, A.; Halas, N. J. Surf. Sci. 1994, 316, L1061-L1067.
8. Kelly, K. F.; Sarkar, D.; Prato, S.; Resh, J. S.; Hale, G. D.; Halas, N. J. J. Vac. Sci. Technol. 1996, B14, 593-596.
9. Chen, C. J. J. Vac. Sci. Technol. 1994, B12, 2193-2199.
10. Rousset, S.; Gauthier, S.; Siboulet, O.; Sacks, W.; Belin, M.; Klein, J. Phys. Rev. Lett. 1989, 63, 1265-1268.
11. McIntyre, B. J.; Sautet, P.; Dunphy, J. C.; Salmeron, M.; Somorjai, G. A. J. Vac. Sci. Technol. 1994, B12, 1751-1753.
12. Schmid, M.; Stadler, H.; Varga, P. Phys. Rev. Lett. 1993, 70, 1441-1444.
13. Ruan, L.; Besenbacher, F.; Stensgaard, I.; Laegsgaard, E. Phys. Rev. Lett. 1993, 70, 4079-4082.
14. Xu, H.; Ng, K. Y. S. Surf. Sci. 1996, 355, L350-L354.
15. Turro, C.; Chang, C. K.; Leroi, G. E.; Cukier, R. I.; Nocera, D. G. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 4013-4015.
16. Roberts, J. A.; Kirby, J. P.; Nocera, D. G. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 8051-8052.
17. de Rege, P. J. F.; Williams, S. A.; Therien, M. J. Science 1995, 269, 1409-1413.
18. Cukier, R. I. J. Phys. Chem. 1995, 99, 16101-16115.
19. Rabe, J. P.; Buchholz, S. Science 1991, 253, 424-427.
20. McGonigal, G. C.; Bernhardt, R. H.; Yeo, Y. H.; Thomson, D. J. J. Vac. Sci. Technol. 1991, B9, 1107-1110.
21. Buchholz, S.; Rabe, J. P. Angew. Chem., Int. Ed. Engl. 1992, 31, 189-191.
22. Yackoboski, K.; Yeo, Y. H.; McGonigal, G. C.; Thomson, D. J. Ultramicroscopy 1992, 42-44, 963-967.
23. Elbel, N.; Roth, W.; Günther, E.; von Seggern, H. Surf. Sci. 1994, 303, 424-432.
24. Elbel, N.; Günther, E.; von Seggern, H. Appl. Phys. Lett. 1994, 65, 642-644.
25. Gunning, A. P.; Kirby, A. R.; Mallard, X.; Morris, V. J. J. Chem. Soc., Faraday Trans. 1994, 90, 2551-2554.
26. Venkataraman, B.; Breen, J. J.; Flynn, G. W. J. Phys. Chem. 1995, 99, 6608-6619.
27. Venkataraman, B.; Flynn, G. W.; Wilbur, J. L.; Folkers, J.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. 1995, 99, 8684-8689.
28. Hibino, M.; Sumi, A.; Hatta, I. Jpn. J. Appl. Phys. 1995, 34, 3354-3359.
29. Cyr, D. M.; Venkataraman, B.; Flynn, G. W.; Black, A.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. 1996, 100, 13747-13759.
30. Nam, A. J.; Teren, A.; Lusby, T. A.; Melmed, A. J. J. Vac. Sci. Technol. 1995, B13, 1556-1559.
31. Bryant, M. A.; Crooks, R. M. Langmuir 1993, 9, 385-387.
32. Chailapakul, O.; Crooks, R. M. Langmuir 1993, 9, 884-888.
33. Stranick, S. J.; Parikh, A. N.; Ailara, D. L.; Weiss, P. S. J. Phys. Chem. 1994, 98, 11136-11142.
34. Abraham, M. H. Chem. Soc. Rev. 1993, 22, 73-83.
35. Schneider, H.-J. Angew. Chem., Int. Ed. Engl. 1991, 30, 1417-1436.
36. Frisbie, D. R.; Rozsnyai, L. F.; Noy, A.; Wrighton, M. S.; Lieber, C. M. Science 1994, 265, 2071-2074.
37. Ito, T.; Namba, M.; Bühlmann, P.; Umezawa, Y. Langmuir 1997, 13, 4323-4332 and references cited therein.