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Volumn 5, Issue 2, 2004, Pages 14-18

Degradation of PLEDs and a way to improve device performances

Author keywords

Buffer Layer; Degradation; HTL; Lifetime; PLED

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EID: 84965143121     PISSN: 15980316     EISSN: 21581606     Source Type: Journal    
DOI: 10.1080/15980316.2004.9651943     Document Type: Article
Times cited : (26)

References (13)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.