Effect of size on electron transfer to silver clusters

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 112, Issue 34, 2008, Pages 13070-13078

  Baetzold, R C ^a  

^a NONE   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ATOMIC PHYSICS; ATOMS; ELECTRON TRANSITIONS; ELECTRONIC PROPERTIES; ELECTRONS; FREE ENERGY; METAL IONS; PROBABILITY DENSITY FUNCTION; SOLUTIONS; SOLVATION;

ELECTRON TRANSFER; SILVER CLUSTERING;

ACTIVATION ENERGY;

EID: 84962476204     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp800330f     Document Type: Article

References (60)

1. (a) Brenner, A.; Riddell, G. J. Res. Nat. Bur. Stand. 1946, 37, 31.
2. (b) Yin, X.; Hong, L.; Chen, B.-H. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 10919.
3. (a) Maeda, K.; Domen, K. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 7851.
4. (b) Kamat, P. V. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 2834.
5. Tachikawa, T.; Fujitsuka, M.; Majima, T. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 5259.
6. James, T. H. The Theory of the Photographic Process, 4th ed.; Macmillan Publishing Co.: New York., 1977.
7. Tani, T. Photographic Sensitivity; Oxford University Press: New York., 1995.
8. Chapter 13 of ref 4.
9. Hamilton, J. F.; Logel, P. C. Photogr. Sci. Eng. 1974, 18, 507.
10. Hamilton, J. F. Adv. Phys. 1988, 37, 359.
11. Trautweiler, F. Photogr. Sci. Eng. 1968, 12, 138.
12. Fayet, P.; Granzer, F.; Hegenbart, G.; Moisar, E.; Pischel, B.; Woste, L. Phys. Rev. Lett. 1985, 55, 3002.
13. Hada, H.; Kawasaki, M. J. Imaging. Sci. 1985, 29, 51.
14. Hailstone, R. L.; Hamilton, J. F. J. Imaging. Sci. 1985, 29, 125.
15. Baetzold, R. C. J. Chem. Phys. 1971, 55, 4363.
16. (a) Baetzold, R. C. J. Sol. St. Chem. 1973, 6, 352.
17. (b) Hamilton, J. F.; Baetzold, R. C. Photogr. Sci. Eng. 1981, 25, 189.
18. (c) Hamilton, J. F.; Baetzold, R. C. Science 1979, 205, 1213.
19. Taylor, K. J.; Pettiette-Hall, C. L.; Cheshnovsky, O.; Smalley, R. E. J. Phys. Chem. 1991, 96, 3319.
20. Baetzold, R. C. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 3577.
21. Baetzold, R. C. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 1385.
22. Bonacic-Koutecky, V.; Cespiva, L.; Fantucci, P.; Koutecky, J. J. Chem. Phys. 1993, 98, 7981.
23. Hailstone, R. K.; Hamilton, J. F. J. Imaging. Sci. 1987, 31, 229.
24. Kawasaki, M.; Tsiymuria, Y.; Hada, H. Phys. Rev. Lett. 1986, 57, 2796.
25. Tani, T. J. Appl. Phys. 2002, 91, 4595.
26. Ohzeki, K.; Tani, T. J. Imaging. Sci. Technol. 2006, 50, 386.
27. (a) Belloni, J.; C. R., Phys. 2002, 3, 1.
28. (b) Belloni, J. Radiat. Phys. Chem. 2003, 67, 291.
29. Hamilton, J. F.; Logel, P. C. J. Catal. 1973, 29, 253.
30. Bell, A. T. Science 2003, 299, 1688.
31. Trevor, D. J.; Cox, D. M.; Kaldor, A. J. J. Am. Chem. Soc. 1990, 112, 3742.
32. Baiker, A. J.; Grunwaldt, J. D. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 102.
33. Socaciu, L. D.; Hagen, J.; Bernhardt, T. M.; Woste, L.; Heiz, U.; Hakkinen, H.; Landman, U. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 10437.
34. Sanchez, A.; Abbet, S.; Heiz, U.; Schneider, W.-D.; Hakkinen, H.; Barnett, R. N.; Landman, U. J. Phys. Chem. A 1999, 103, 9573.
35. Li, F.; Gates, B. P. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 262.
36. (a) Miertus, S.; Scrocce, E.; Tomasi, J. J. Chem. Phys. 1981, 55, 117.
37. (b) Mennucci, B.; Canees, E.; Tomasi, J. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 10506.
38. (c) Tomasi, J.; Mennucci, B.; Cammi, R. Chem. Rev. 2005, 105, 2999.
39. (a) Marcus, R. A. J. Chem. Phys. 1951, 24, 966.
40. (b) Marcus, R. C. Rev. Mod. Phys. 1993, 65, 599.
41. (c) Barbara, P. F.; Meyer, T. J.; Ratner, M. A. J. Phys. Chem. 1996, 100, 13148.
42. (d) Sutin, N. Prog. Inorg. Chem. 1983, 30, 441.
43. (e) Lewis, N. S. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 4843.
44. (a) Sushko, P. V.; Shluger, A. L.; Catlow, C. R. A. Surf. Sci. 2000, 450, 153.
45. (b) Sushko, P. V. Development and Application of Embedded Cluster Methodologies for Defects in Ionic Materials, Ph. D. Thesis, University of London, 2001.
46. (c) Sushko, P. V.; Mukhopadhyay, S.; Mysovsky, A. S.; Sulimov, V. B.; Taga, A.; Shluger, A. L. J. Phys.: Condens. Matter 2005, 17, S2115.
47. (a) Hay, P. J.; Wadt, W. R. J. Chem. Phys. 1985, 82, 270.
48. (b) Wadt, W. R.; Hay, P. J. J. Chem. Phys. 1985, 82, 284.
49. Catlow, C. R. A.; Corish, J.; Harding, J. H.; Jacobs, P. W. M. Philos. Mag. A 1987, 55, 481.
50. (a) Becke, A. D. Phys. Rev. 1988, A33, 3098.
51. (b) Lee, C.; Wang, W.; Parr, R. G. Phys. Rev. 1988, B37, 785.
52. , Frisch, M. J. ; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Montgomery, Jr., J. A.; Vreven, T.; Kudin, K. N. ; Burant, J. C.; Millam, J. M.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.; Scalmani, G.; Rega, N.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y. ; Kitao, O.; Nakai, H.; Klene, M.; Li, X.; Knox, J. E.; Hratchian, H. P.; Cross, J. B.; Bakken, V.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Ayala, P. Y.; Morokuma, K.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cui, Q.; Baboul, A. G.; Clifford, S.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Gonzalez, C.; and Pople, J. A. Gaussian 03, Revision C.02; Gaussian, Inc.: Wallingford, CT, 2004.
53. Barone, V.; Cossi, M.; Tomasi, J. J. Chem. Phys. 1997, 107, 3210.
54. Bondi, A. J. Phys. Chem. 1964, 68, 441.
55. Barone, V.; Cossi, M. J. Phys. Chem. A 1998, 102, 1995.
56. Frisch, A. E.; Frisch, M. J.; Trucks, G. W. Gaussian 03 User's Reference; Gaussian Inc.: Carnegie, PA, 2003.
57. Nelson, S. F.; Blackenstock, S. C.; Kim, Y. J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 677.
58. Rosso, K. M.; Rustad, J. R. J. Phys. Chem. A 2000, 104, 6718.
59. Gronbeck, H.; Hellman, A.; Gavrin, A. J. Phys. Chem. A 2007, 111, 6062.
60. Lee, W. H.; Brown, E. R. Chapter 11 of ref 4.