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Volumn 5, Issue 11, 2015, Pages

Measuring the complex field scattered by single submicron particles

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LASER BEAMS; NANOPARTICLES;

EID: 84947228696     PISSN: None     EISSN: 21583226     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.4935927     Document Type: Article
Times cited : (37)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.