Structural analysis by rietveld method and its correlation with optical propertis of nanocrystalline zinc oxide

Advanced Materials Letters

Volumn 6, Issue 2, 2015, Pages 139-147

  Kumar, Vikash ^a   Kumari, Swati ^a   Kumar, Pawan ^b   Kar, Manoranjan ^b   Kumar, Lawrence ^a  

^a CENTRAL UNIVERSITY OF JHARKHAND   (India)

^b INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY PATNA   (India)

Author keywords

Photoluminescence; Raman spectroscopy; Rietveld; Wurtzite; X ray diffraction

Indexed keywords

EID: 84922693504     PISSN: 09763961     EISSN: 0976397X     Source Type: Journal    
DOI: 10.5185/amlett.2015.5632     Document Type: Article

References (42)

1. Kumar, P.; Singh, J.; Parashar, V.; Singh, K.; Tiwari, R.S.; Srivastava, O. N.; Ramam, K.; Pandey, A. C.; Cryst. Engg. Comm., 2012, 14, 1653. DOI: 10.1039/clce06127e
2. Mang, A.; Reimann, K.; Rubenacke, St.; Soild. State. Commun. 1995, 94, 251. DOI: 10.1016/0038-1098(95)00054-2
3. Madelung, O.; Semiconductors-Basic Data; Springer: Berlin, 1996. DOI: 10.1007/978-3-642-97675-9
4. Bagnall, D. M; Chen, Y. F; Zhu, Z; Yao, T; Koyama, S; Shen, M. Y; Goto, T.; Appl. Phys. Lett., 1997, 70, 2230. DOI: 10.1063/1.118824
5. Corsa, A. D.; Posternak, M.; Resta, R.; Balderschi, A.; Phys. Rev. B., 1994, 50, 10715. DOI: 10.1103/PhysRevB.50.10715
6. Jaffe, J. E.; Hess, A. C.; Phys. Rev. B., 1993, 48, 7903. DOI: 10.1103/PhysRevB.48.7903
7. Wang, Z. L.; Kong, X. Y.; Ding, Y.; Gao, P.; Hughes, W. L.; Yang, R.; Zhang, Y.; Adv. Funct. Mater, 2004, 14, 943. DOI: 10.1002/adfm.200400180
8. Kong, X. Y.; Wang, Z. L.; Nano. Lett, 2003, 3, 1625. DOI: 10.1021/nl034463p
9. Kong, X. Y.; Ding, Y.; Yang, R.; Wang, Z. L.; Science, 2004, 303, 1348. DOI: 10.1126/science.1092356
10. Kong, X. Y.; Wang, Z. L.; Appl. Phys. Lett, 2004, 84, 975. DOI: 10.1063/1.1646453
11. Ludi, B.; Niederberger, M.; Dalton. Trans., 2013, 42, 12554. DOI: 10.1039/c3dt50610j
12. Rodriguez, J. A.; Garcia, M. F.; Synthesis, Properties and Applications of Oxide nanomaterials; Wiley & Sons: New Jersey 2007. DOI: 10.1002/0470108975
13. Fabbri, F.; Villani, M.; Catellani, A.; Calzolari, A.; Cicero, G.; Calestani, D.; Calestani, G.; Zappettini, A.; Dierre, B.; Sekiguchi, T.; Salviati, G.; Sci. Rep. 2014, 4, 5158. DOI: 10.1038/srep05158
14. Nahm, H.-H.; Park, C.H.; Kim, Y.-S.; Sci. Rep. 2014, 4, 4124. DOI: 10.1038/srep04124
15. https://www.ill.eu/sites/fullprof/index.html
16. Chen, L.; Mashimo, T.; Omurzak, E.; Okudera, H.; Iwamoto, C.; Yoshiasa, A.; J. Phys. Chem. C., 2011, 115, 9370. DOI: 10.1021/jp111367k
17. Im, J.-H.; Chung, J.; Kim, S.-J.; Pak, N.-G.; Nanoscale. Res. Lett., 2012, 7, 353. DOI: 10.1186/1556-276X-7-353
18. Du, Y.; Fang, J.; Zhang, M.; Hong, J.; Yin, Z.; Zhang, Q.; Mat. Lett., 2002, 57, 802. DOI: 10.1016/S0167-577X(02)00876-5
19. Bhagwat, M.; Ramaswamy, A. V.; Tyagi, A. K.; Ramaswamy, V.; Mat. Res. Bull. 2003, 38, 1713. DOI: 10.1016/S0025-5408(03)00201-0
20. Brehm, J. U.; Winterer, M.; Hahm, H.; J. Appl. Phys., 2006, 100, 064311. DOI: 10.1063/1.2349430
21. Suryanarayana, C.; Nortan, M. G.; X-ray Diffraction: A practical Approach; Plenum Publishing Corporation: New York, 1998. DOI: 10.1007/978-1-4899-0148-4
22. Ahlawat, A; Sathe, V. G; Reddy, V. R; Gupta, A.; J. Magn. Magn. Mater. 2011, 323, 2049. DOI: 10.1016/j.jmmm.2011.03.017
23. Zhang, J; Zhang, Y; Xu, K. W; Ji, V.; Solid. State. Commun. 2006, 139, 87. DOI: 10.1016/j.ssc.2006.05.026
24. Nye, J. F.; Physical Properties of Crystals: Their Representation by Tensors and Matrices; Oxford: New York, 1985.
25. Sinha, A. K.; Gupta, R. K.; Deb, S. K.; Appl. Phys. A., 2012, 108, 607. DOI: 10.1007/s00339-012-6938-y
26. Guo, S; Du, Z; Dai, S.; Phys. Stat. Sol (b) 2009, 246, 2329. DOI: 10.1002/pssb.200945192
27. Ozgur, U.; Alivov, Y.I.; Liu, C; Teke, A.; Reshchikov, M.A.; Dogan, S.; Avrutin, V.; Cho S-J; Morkoc, H.; J. Appl. Phys., 2005, 98, 041301. DOI: 10.1063/1.1992666
28. Rajalakshmi, M.; Arora, A. K.; Bendre, B. S.; Mahamuni, S.; J. Appl. Phys. 2000, 87, 2445. DOI: 10.1063/1.372199
29. Cusco, R.; Alarcon-Llado, E.; Ibanez, J.; Artus, L.; Jimenez, J.; Wang, B.; Callahan, M. J.; Phys. Rev. B., 2007, 75, 165202. DOI: 10.1103/PhysRevB.75.165202
30. Giri, P. K.; Bhattacharyya, S; Singh, D. K; Kesavamoorthy, R; Panigrahi, B. K; Nair, K. G. M.; J. Appl. Phys., 2007, 102, 093515. DOI: 10.1063/1.2804012
31. Liu, B.; Zeng, H. C.; J. Am. Chem. Soc., 2003, 125, 4430. DOI: 10.1021/ja0299452
32. Ben Yahia, S; Znaidi, L; Kanaev, A; Petitet, J. P.; Spectrochim. Acta. A., 2008, 71, 1234. DOI: 10.1016/j.saa.2008.03.032
33. Alim, K. A; Fonoberov, V. A.; Shamsa, M.; Balandin, A. A.; J. Appl. Phys., 2005, 97, 124313. DOI: 10.1063/1.1944222
34. Lehr, D.; Luka, M.; Wagner, M. R.; Bügler, M; Hoffmann, A; Polarz, S; Chem. Mater., 2012, 24, 1771. DOI: 10.1021/cm300239q
35. Umar, A.; Kim, S. H.; Lee, Y. S.; Nahm, K. S.; Hahn, Y. B.; J. Cryst. Growth, 2005, 282, 131. DOI: 10.1016/j.jcrysgro.2005.04.095
36. Serrano, J.; Romero, A. H.; Manjon, F. J.; Lauck, R.; Cardona, M; Rubio, A.; Phys. Rev. B., 2004, 69, 094306-1. DOI: 10.1103/PhysRevB.69.094306
37. Vasile, O-R; Andronescu, E; Ghitulica, C; Vasile, B, S; Opera, O; Vasile, E; Trusca, R.; J. Nanopart. Res., 2012, 14, 1269. DOI: 10.1007/s11051-012-1269-7
38. Wang, X. C.; Chen, X. M.; Yang, B. H.; J. Alloys. Compd. 2009, 488, 232. DOI: 10.1016/j.jallcom.2009.08.089
39. Pandiyarajan, T.; Baesso, M. L.; Karthikeyan, B.; Eur. Phys. J. D. 2014, 68, 28. DOI: 10.1140/epjd/e2013-40363-3
40. Ahn, C. H.; Kim, Y. Y.; Kim, D. C.; Mohanta, S. K.; Choa, H. K.; J. Appl. Phys., 2009, 105, 013502. DOI: 10.1063/1.3054175
41. Zeng, H.; Duan, G.; Li, Y.; Yang, S.; Xu, X.; Cai, W.; Adv. Funct. Mater., 2010, 20, 561. DOI: 10.1002/adfm.200901884
42. Samanta, P. K; Bandyopadhyay, A. K.; Appl. Nanosci. 2012, 2, 111. DOI: 10.1007/s13204-011-0038-8