Stability of silver nanowire based electrodes under environmental and electrical stresses

Nanoscale

Volumn 7, Issue 5, 2015, Pages 2107-2115

  Mayousse, Céline ^a   Celle, Caroline ^a   Fraczkiewicz, Alexandra ^a   Simonato, Jean Pierre ^a  

^a UNIV GRENOBLE ALPES   (France)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CONDUCTING POLYMERS; DETERIORATION; ELECTRIC RESISTANCE MEASUREMENT; HYBRID MATERIALS; SILVER; TIN OXIDES; TRANSPARENT ELECTRODES;

ACCELERATED AGEING PROCESS; AMBIENT ATMOSPHERE; ELECTRICAL STRESS; FUNCTIONAL DEVICES; HIGH RELATIVE HUMIDITIES; HIGH TEMPERATURE; ITO (INDIUM-TIN OXIDE); OPTOELECTRONIC APPLICATIONS;

SILVER NANOWIRES;

EID: 84921722768     PISSN: 20403364     EISSN: 20403372     Source Type: Journal    
DOI: 10.1039/c4nr06783e     Document Type: Article

References (49)

1. S. B. Yang, B.-S. Kong, D.-H. Jung, Y.-K. Baek, C.-S. Han, S.-K. Oh and H.-T. Jung, Nanoscale, 2011, 3, 1361-1373.
2. S. Park, M. Vosguerichian and Z. Bao, Nanoscale, 2013, 5, 1727-1752.
3. E. J. Spadafora, K. Saint-Aubin, C. Celle, R. Demadrille, B. Grévin and J.-P. Simonato, Carbon, 2012, 50, 359-3464.
4. S. Bae, H. Kim, Y. Lee, X. Xu, J.-S. Park, Y. Zheng, J. Balakrishnan, T. Lei, H. R. Kim, Y. Il Song, Y.-J. Kim, K. S. Kim, B. Ozyilmaz, J.-H. Ahn, B. H. Hong and S. Iijima, Nat. Nanotechnol., 2010, 5, 574-578.
5. N. O. Weiss, H. Zhou, L. Liao, Y. Liu, S. Jiang, Y. Huang and X. Duan, Adv. Mater., 2012, 24, 5782-5825.
6. H. Kim, A. Tyurnina, J.-P. Simonato, D. Rouchon, D. Mariolle, N. Chevalier and J. Dijon, Appl. Phys. Lett., 2014, 105, 011605.
7. M. V. Fabretto, D. R. Evans, M. Mueller, K. Zuber, P. Hojati-Talemi, R. D. Short, G. G. Wallace and P. J. Murphy, Chem. Mater., 2012, 24, 3998-4003.
8. Y. H. Kim, C. Sachse, M. L. Machala, C. May, L. Müller-Meskamp and K. Leo, Adv. Funct. Mater., 2011, 21, 1076-1081.
9. N. Massonnet, A. Carella, D. G. Arnaud, J. Faure-Vincent and J.-P. Simonato, Chem. Sci., 2015, 6, 412-417.
10. M.-G. Kang and L. J. Guo, Adv. Mater., 2007, 19, 1391-1396.
11. J. Van de Groep, P. Spinelli and A. Polman, Nano Lett., 2012, 12, 3138-3144.
12. D. Langley, G. Giusti, C. Mayousse, C. Celle, D. Bellet and J.-P. Simonato, Nanotechnology, 2013, 24, 452001.
13. C. Mayousse, C. Celle, A. Carella and J.-P. Simonato, Nano Res., 2014, 7, 315-324.
14. A. R. Rathmell and B. J. Wiley, Adv. Mater., 2011, 23, 4798-4803.
15. S. De, T. M. Higgins, P. E. Lyons, E. M. Doherty, P. N. Nirmalraj, W. J. Blau, J. J. Boland and J. N. Coleman, ACS Nano, 2009, 3, 1767-1774.
16. M. Song, D. S. You, K. Lim, S. Park, S. Jung, C. S. Kim, D.-H. Kim, D.-G. Kim, J.-K. Kim, J. Park, Y.-C. Kang, J. Heo, S.-H. Jin, J. H. Park and J.-W. Kang, Adv. Funct. Mater., 2013, 23, 4177-4184.
17. P. Lee, J. Lee, H. Lee, J. Yeo, S. Hong, K. H. Nam, D. Lee, S. S. Lee and S. H. Ko, Adv. Mater., 2012, 24, 3326-3332.
18. H. J. Lee, J. H. Hwang, K. B. Choi, S.-G. Jung, K. N. Kim, Y. S. Shim, C. H. Park, Y. W. Park and B.-K. Ju, ACS Appl. Mater. Interfaces, 2013, 5, 10397-10403.
19. Z. Yu, L. Li, Q. Zhang, W. Hu and Q. Pei, Adv. Mater., 2011, 23, 4453-4457.
20. S.-E. Park, S. Kim, D.-Y. Lee, E. Kim and J. Hwang, J. Mater. Chem. A, 2013, 1, 14286.
21. J. Liang, L. Li, X. Niu, Z. Yu and Q. Pei, Nat. Photonics, 2013, 7, 817-824.
22. W. Gaynor, S. Hofmann, M. G. Christoforo, C. Sachse, S. Mehra, A. Salleo, M. D. McGehee, M. C. Gather, B. Lüssem, L. Müller-Meskamp, P. Peumans and K. Leo, Adv. Mater., 2013, 25, 4006-4013.
23. C. Mayousse, C. Celle, E. Moreau, J.-F. Mainguet, A. Carella and J.-P. Simonato, Nanotechnology, 2013, 24, 215501.
24. J. Lee, P. Lee, H. B. Lee, S. Hong, I. Lee, J. Yeo, S. S. Lee, T.-S. Kim, D. Lee and S. H. Ko, Adv. Funct. Mater., 2013, 23, 4171-4176.
25. A. R. Madaria, A. Kumar, F. N. Ishikawa and C. Zhou, Nano Res., 2010, 3, 564-573.
26. W. Hu, X. Niu, R. Zhao and Q. Pei, Appl. Phys. Lett., 2013, 102, 083303.
27. C. Celle, C. Mayousse, E. Moreau, H. Basti, A. Carella and J.-P. Simonato, Nano Res., 2012, 5, 427-433.
28. T. Kim, Y. W. Kim, H. S. Lee, H. Kim, W. S. Yang and K. S. Suh, Adv. Funct. Mater., 2013, 23, 1250-1255.
29. S. Sorel, D. Bellet and J. N. Coleman, ACS Nano, 2014, 8, 4805-4814.
30. T. E. Graedel, J. Electrochem. Soc., 1992, 139, 1963-1969.
31. D. W. Rice, P. Peterson, E. B. Rigby, P. B. P. Phipps, R. J. Cappell and R. Tremoureux, J. Electrochem. Soc., 1981, 128, 275-284.
32. M.-S. Lee, K. Lee, S.-Y. Kim, H. Lee, J. Park, K.-H. Choi, H.-K. Kim, D.-G. Kim, D.-Y. Lee, S. Nam and J.-U. Park, Nano Lett., 2013, 13, 2814-2821.
33. I. K. Moon, J. Il Kim, H. Lee, K. Hur, W. C. Kim and H. Lee, Sci. Rep., 2013, 3, 1112.
34. J. Liang, L. Li, K. Tong, Z. Ren, W. Hu, X. Niu, Y. Chen and Q. Pei, ACS Nano, 2014, 8, 1590-1600.
35. Y. Ahn, Y. Jeong and Y. Lee, ACS Appl. Mater. Interfaces, 2012, 4, 6410-6414.
36. D. Lee, H. Lee, Y. Ahn, Y. Jeong, D.-Y. Lee and Y. Lee, Nanoscale, 2013, 5, 7750-7755.
37. J. L. Elechiguerra, L. Larios-Lopez, C. Liu, D. Garcia-Gutierrez, A. Camacho-Bragado and M. J. Yacaman, Chem. Mater., 2005, 17, 6042-6052.
38. H. H. Khaligh and I. a. Goldthorpe, Nanoscale Res. Lett., 2013, 8, 235.
39. N. Grillet, D. Manchon, E. Cottancin, F. Bertorelle, C. Bonnet, M. Broyer, J. Lermé and M. Pellarin, J. Phys. Chem. C, 2013, 117, 2274-2282.
40. D. Liang, H. C. Allen, G. S. Frankel, Z. Y. Chen, R. G. Kelly, Y. Wu and B. E. Wyslouzil, J. Electrochem. Soc., 2010, 157, C146.
41. Z. Y. Chen, D. Liang, G. Ma, G. S. Frankel, H. C. Allen and R. G. Kelly, Corros. Eng., Sci. Technol., 2010, 45, 169-180.
42. A. W. Czanderna, J. Phys. Chem., 1964, 68, 2765-2771.
43. J. D. Sinclair, J. Electrochem. Soc., 1982, 129, 33-39.
44. J. P. Franey, G. W. Kammlott and T. E. Graedel, Corros. Sci., 1985, 25, 133-143.
45. H. E. Bennett, J. Appl. Phys., 1969, 40, 3351.
46. M. H. Hebb, J. Chem. Phys., 1952, 20, 185-190.
47. D. Y. Choi, H. W. Kang, H. J. Sung and S. S. Kim, Nanoscale, 2013, 5, 977-983.
48. R. D. Glover, J. M. Miller and J. E. Hutchison, ACS Nano, 2011, 5, 8950-8957.
49. S. Chen, L. Song, Z. Tao, X. Shao, Y. Huang, Q. Cui and X. Guo, Org. Electron., 2014, 15, 3654-3659.