-
1
-
-
78149450630
-
-
Zeng, X. Y.; Zhang, Q. K.; Yu, R. M.; Lu, C. Z. Adv. Mater. 2010, 22, 4484-4488
-
(2010)
Adv. Mater.
, vol.22
, pp. 4484-4488
-
-
Zeng, X.Y.1
Zhang, Q.K.2
Yu, R.M.3
Lu, C.Z.4
-
2
-
-
84862334322
-
-
Lim, J. W.; Cho, D. Y.; Eun, K.; Choa, S. H.; Na, S. I.; Kim, J.; Kim, H. K. Sol. Energy Mater. Sol. Cells. 2012, 105, 69-76
-
(2012)
Sol. Energy Mater. Sol. Cells.
, vol.105
, pp. 69-76
-
-
Lim, J.W.1
Cho, D.Y.2
Eun, K.3
Choa, S.H.4
Na, S.I.5
Kim, J.6
Kim, H.K.7
-
3
-
-
2342486652
-
-
Forrest, S. R. Nature 2004, 428, 911-919
-
(2004)
Nature
, vol.428
, pp. 911-919
-
-
Forrest, S.R.1
-
4
-
-
0000162419
-
-
Kim, H.; Gilmore, C. M.; Piqué, A.; Horwitz, J. S.; Mattoussi, H.; Murata, H.; Kafafi, Z. H.; Chrisey, D. B. J. Appl. Phys. 1999, 86, 6451-6462
-
(1999)
J. Appl. Phys.
, vol.86
, pp. 6451-6462
-
-
Kim, H.1
Gilmore, C.M.2
Piqué, A.3
Horwitz, J.S.4
Mattoussi, H.5
Murata, H.6
Kafafi, Z.H.7
Chrisey, D.B.8
-
5
-
-
2942522858
-
-
Hu, Y. L.; Diao, X. G.; Wang, C.; Hao, W. C.; Wang, T. M. Vacuum. 2004, 75, 183-188
-
(2004)
Vacuum.
, vol.75
, pp. 183-188
-
-
Hu, Y.L.1
Diao, X.G.2
Wang, C.3
Hao, W.C.4
Wang, T.M.5
-
6
-
-
0037040743
-
-
Chen, Z.; Cotterell, B.; Wang, W. Eng. Fract. Mech. 2002, 69, 597-603
-
(2002)
Eng. Fract. Mech.
, vol.69
, pp. 597-603
-
-
Chen, Z.1
Cotterell, B.2
Wang, W.3
-
7
-
-
79952442912
-
-
Sun, D.-M.; Marina, Y.; Timmermans.; Tian, Y.; Nasibulin, A. G.; Kauppinen, E. I.; Kishimoto, S.; Mizutani, T.; Ohno, Y. Nat. Nanotechnol. 2011, 6, 156-161
-
(2011)
Nat. Nanotechnol.
, vol.6
, pp. 156-161
-
-
Sun, D.-M.1
Marina, Y.2
Timmermans3
Tian, Y.4
Nasibulin, A.G.5
Kauppinen, E.I.6
Kishimoto, S.7
Mizutani, T.8
Ohno, Y.9
-
8
-
-
84863011672
-
-
Han, T.-H.; Lee, Y.; Choi, M.-R.; Woo, S.-H.; Bae, S.-H.; Hong, B. H.; Ahn, J.-H.; Lee, T.-W. Nat. Photonics 2012, 6, 105-110
-
(2012)
Nat. Photonics
, vol.6
, pp. 105-110
-
-
Han, T.-H.1
Lee, Y.2
Choi, M.-R.3
Woo, S.-H.4
Bae, S.-H.5
Hong, B.H.6
Ahn, J.-H.7
Lee, T.-W.8
-
9
-
-
84856194063
-
-
Hwang, J. O.; Park, J. S.; Choi, D, S.; Kim, J. Y.; Lee, S. H.; Lee, K. E.; Kim, Y.-H.; Song, M. H.; Yoo, S.; Kim, S. O. ACS Nano 2012, 6, 159-167
-
(2012)
ACS Nano
, vol.6
, pp. 159-167
-
-
Hwang, J.O.1
Park, J.S.2
Choi, D.S.3
Kim, J.Y.4
Lee, S.H.5
Lee, K.E.6
Kim, Y.-H.7
Song, M.H.8
Yoo, S.9
Kim, S.O.10
-
10
-
-
84881166374
-
-
Zhu, S.; Gao, Y.; Hu, B.; Li, J.; Su, J.; Fan, Z.; Zhou, Z. Nanotechnology 2013, 24, 335202
-
(2013)
Nanotechnology
, vol.24
, pp. 335202
-
-
Zhu, S.1
Gao, Y.2
Hu, B.3
Li, J.4
Su, J.5
Fan, Z.6
Zhou, Z.7
-
11
-
-
77956369666
-
-
Sun, Y. Nanoscale 2010, 2, 1626-1642
-
(2010)
Nanoscale
, vol.2
, pp. 1626-1642
-
-
Sun, Y.1
-
12
-
-
84873649574
-
-
Kim, T.; Canlier, A.; Kim, G. H.; Choi, J.; Park, M.; Han, S. M. ACS Appl. Mater. Interfaces 2013, 5, 788-794
-
(2013)
ACS Appl. Mater. Interfaces
, vol.5
, pp. 788-794
-
-
Kim, T.1
Canlier, A.2
Kim, G.H.3
Choi, J.4
Park, M.5
Han, S.M.6
-
13
-
-
84870226184
-
-
Sachse, C.; Müller-Meskamp, L.; Bormann, L.; Kim, Y. H.; Lehnert, F.; Philipp, A.; Beyer, B.; Leo, K. Org. Electro. 2012, 14, 143-148
-
(2012)
Org. Electro.
, vol.14
, pp. 143-148
-
-
Sachse, C.1
Müller-Meskamp, L.2
Bormann, L.3
Kim, Y.H.4
Lehnert, F.5
Philipp, A.6
Beyer, B.7
Leo, K.8
-
15
-
-
84874958651
-
-
Kim, T.; Kim, Y. W.; Lee, H. S.; Kim, H.; Yang, W. Y.; Suh, K. S. Adv. Funct. Mater. 2013, 23, 1250-1255
-
(2013)
Adv. Funct. Mater.
, vol.23
, pp. 1250-1255
-
-
Kim, T.1
Kim, Y.W.2
Lee, H.S.3
Kim, H.4
Yang, W.Y.5
Suh, K.S.6
-
16
-
-
84874881657
-
-
Kim, K.; Hong, K.; Koo, B.; Lee, I.; Lee, J.-L. Appl. Phys. Lett. 2013, 102, 081118
-
(2013)
Appl. Phys. Lett.
, vol.102
, pp. 081118
-
-
Kim, K.1
Hong, K.2
Koo, B.3
Lee, I.4
Lee, J.-L.5
-
17
-
-
80053540559
-
-
Wang, Y.; Feng, T.; Wang, K.; Qian, M.; Chen, Y.; Sun, Z. J. Nanomater. 2011, 2011, 935218
-
(2011)
J. Nanomater.
, vol.2011
, pp. 935218
-
-
Wang, Y.1
Feng, T.2
Wang, K.3
Qian, M.4
Chen, Y.5
Sun, Z.6
-
19
-
-
40249100189
-
-
Zhao, B.; Momose, T.; Ohkubo, T.; Shimogaki, Y. Microelectron. Eng. 2008, 85, 675-681
-
(2008)
Microelectron. Eng.
, vol.85
, pp. 675-681
-
-
Zhao, B.1
Momose, T.2
Ohkubo, T.3
Shimogaki, Y.4
-
21
-
-
84873127454
-
-
Moon, I. K.; Kim, J. I.; Lee, H.; Hur, K.; Kim, W. C.; Lee, H. Sci. Rep. 2013, 3, 1112
-
(2013)
Sci. Rep.
, vol.3
, pp. 1112
-
-
Moon, I.K.1
Kim, J.I.2
Lee, H.3
Hur, K.4
Kim, W.C.5
Lee, H.6
-
23
-
-
28044449759
-
-
Ito, N.; Sato, Y.; Song, P. K.; Kaijio, A.; Inoue, K.; Shigesato, Y. Thin Solid Films 2006, 94, 99-103
-
(2006)
Thin Solid Films
, vol.94
, pp. 99-103
-
-
Ito, N.1
Sato, Y.2
Song, P.K.3
Kaijio, A.4
Inoue, K.5
Shigesato, Y.6
-
24
-
-
75449093783
-
-
Kim, Y. S.; Oh, S. B.; Park, J. H.; Cho, M. S.; Lee, Y. Sol. Energy Mater. Sol. Cells 2010, 94, 471-477
-
(2010)
Sol. Energy Mater. Sol. Cells
, vol.94
, pp. 471-477
-
-
Kim, Y.S.1
Oh, S.B.2
Park, J.H.3
Cho, M.S.4
Lee, Y.5
-
25
-
-
80051585817
-
-
Ge, J.; Cheng, G.; Chen, L. Nanoscale 2011, 3, 3084-3088
-
(2011)
Nanoscale
, vol.3
, pp. 3084-3088
-
-
Ge, J.1
Cheng, G.2
Chen, L.3
-
26
-
-
79954419454
-
-
Qin, X.; Wang, H.; Miao, Z.; Wang, X.; Fang, Y.; Chen, Q.; Shao, X. Talanta 2011, 84, 673-678
-
(2011)
Talanta
, vol.84
, pp. 673-678
-
-
Qin, X.1
Wang, H.2
Miao, Z.3
Wang, X.4
Fang, Y.5
Chen, Q.6
Shao, X.7
-
27
-
-
84862279426
-
-
Rathmell, A. R.; Nguyen, M.; Chi, M.; Wiley, B. J. Nano Lett. 2012, 12, 3193-3199
-
(2012)
Nano Lett.
, vol.12
, pp. 3193-3199
-
-
Rathmell, A.R.1
Nguyen, M.2
Chi, M.3
Wiley, B.J.4
-
28
-
-
23744488584
-
-
Murray, B. J.; Newberg, N. T.; Walter, E. C.; Li, Q.; Hemminger, J. C.; Penner, R. M. J. Anal. Chem. 2005, 77, 5205-5214
-
(2005)
Anal. Chem.
, vol.77
, pp. 5205-5214
-
-
Murray, B.J.1
Newberg, N.T.2
Walter, E.C.3
Li, Q.4
Hemminger, J.C.5
Penner, R.M.J.6
-
30
-
-
84874887421
-
-
Coskun, S.; Ates, E. S.; Unalan, H. E. Nanotechnology 2013, 24, 125202
-
(2013)
Nanotechnology
, vol.24
, pp. 125202
-
-
Coskun, S.1
Ates, E.S.2
Unalan, H.E.3
-
31
-
-
84870673481
-
-
Reinhard, M.; Eckstein, R.; Slobodskyy, A.; Lemmer, U.; Colsmann, A. Org. Electron. 2012, 14, 273-277
-
(2012)
Org. Electron.
, vol.14
, pp. 273-277
-
-
Reinhard, M.1
Eckstein, R.2
Slobodskyy, A.3
Lemmer, U.4
Colsmann, A.5
|