Probing carrier lifetimes at dislocations in epitaxial CdTe

Applied Physics Express

Volumn 7, Issue 6, 2014, Pages

  Alberi, Kirstin ^a   Fluegel, Brian ^a   DiNezza, Michael J ^b   Liu, Shi ^b   Zhang, Yong Hang ^b   Mascarenhas, Angelo ^a  

^a NATIONAL RENEWABLE ENERGY LABORATORY   (United States)

^b Arizona State University   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

IMAGING TECHNIQUES; OPTOELECTRONIC DEVICES;

CARRIER DIFFUSION LENGTH; CDTE; DARK-LINES; DOUBLE HETEROSTRUCTURES; PHOTOLUMINESCENCE IMAGING; RADIATIVE RECOMBINATION;

CADMIUM TELLURIDE;

EID: 84904704298     PISSN: 18820778     EISSN: 18820786     Source Type: Journal    
DOI: 10.7567/APEX.7.065503     Document Type: Article

References (15)

1. T. J. de Lyon, J. E. Jensen, M. D. Gorwitz, C. A. Cockrum, S. M. Johnson, and G. M. Venzor, J. Electron. Mater. 28, 705 (1999).
2. M. Carmody, S. Mallick, J. Margetis, R. Kodama, T. Biegala, D. Xu, P. Bechmann, J. W. Garland, and S. Sivananthan, Appl. Phys. Lett. 96, 153502 (2010).
3. J. W. Garland, T. Biegala, M. Carmody, C. Gilmore, and S. Sivananthan, J. Appl. Phys. 109, 102423 (2011).
4. L. A. Kolodziejski, R. L. Gunshor, and A. V. Nurmikko, Annu. Rev. Mater. Sci. 25, 711 (1995).
5. B. G. Yacobi and D. B. Holt, J. Appl. Phys. 59, R1 (1986).
6. M. J. Romero, M. M. Al-Jassim, R. G. Dhere, F. S. Hasoon, M. A. Contreras, T. A. Gessert, and H. R. Moutinho, Prog. Photovoltaics 10, 445 (2002).
7. M. J. DiNezza, X.-H. Zhao, S. Liu, A. P. Kirk, and Y.-H. Zhang, Appl. Phys. Lett. 103, 193901 (2013).
8. N. Armani, C. Ferrari, G. Salviati, F. Bissoli, M. Zha, A. Zappettini, and L. Zanotti, J. Phys.: Condens. Matter 14, 13203 (2002).
9. S. Biernacki, U. Scherz, and B. K. Meyer, Phys. Rev. B 48, 11726 (1993).
10. W. Stadler, D. M. Hofmann, H. C. Alt, T. Muschik, B. K. Meyer, E. Weigel, G. Muller-Vogt, M. Salk, E. Rupp, and K. W. Benz, Phys. Rev. B 51, 10619 (1995).
11. F. Cléton, B. Sieber, A. Bensaada, R. A. Masut, J. M. Bonard, and J. D. Ganiere, J. Appl. Phys. 80, 837 (1996).
12. J. Schreiber, S. Hildebrandt, H. Uniewski, and V. Bechstein, Mater. Sci. Eng. B 42, 24 (1996).
13. F. J. Schultes, T. Christian, R. Jones-Albertus, E. Pickett, K. Alberi, B. Fluegel, T. Liu, P. Misra, A. Sukiasyan, H. Yuen, and N. M. Haegel, Appl. Phys. Lett. 103, 242106 (2013).
14. S. R. Kurtz and R. McConnell, AIP Conf. Proc. 404, 191 (1997).
15. C. L. Andre, D. M. Wilt, A. J. Pitera, M. L. Lee, E. A. Fitzgerald, and S. A. Ringle, J. Appl. Phys. 98, 014502 (2005).